一种高精度吸光度检测装置

    公开(公告)号:CN105115913A

    公开(公告)日:2015-12-02

    申请号:CN201510383761.4

    申请日:2015-07-03

    Abstract: 本发明公开了一种高精度吸光度检测装置,包括盖板、检测室和进液室;在所述盖板上设置有排气孔和透气膜,在所述检测室中开设有上下贯穿的空腔,通过将所述空腔设计成表面光滑的圆柱孔,这样即便有气泡进入到所述空腔,也可以顺利地上浮通过盖板上的排气孔排出。在检测室的相对两个侧面上对应开设有光源接口和检测接口,通过将光源接口和检测接口同轴设计在检测室偏下方的位置处,此处气泡不易存在,由此可有效减少气泡对吸光度检测的影响。在进液室中设置过滤膜和倾斜向上的进液口及透气膜,由此可以减少气泡进入检测室的可能性。此外,通过在检测室上增设感温元件,从而可以有效反馈待测样品的温度,以用于修正,继而实现吸光度检测精度的提高。

    一种聚合物芯片微通道的加工和平整化方法

    公开(公告)号:CN103213943B

    公开(公告)日:2015-08-05

    申请号:CN201310140950.X

    申请日:2013-04-23

    Abstract: 本发明借助电路板雕刻机提供一种有机聚合物微流控芯片的加工方法及其平整化技术,它可以解决现有机械加工聚合物芯片过程中芯片微通道均匀性差,表面粗糙度高的缺陷。技术方案是,所述平整化方法是按照以下操作步骤进行的:将经过芯片微通道加工方法后的芯片基片置于培养皿中,刻有微通道一面向下,用垫块垫起四角,在培养皿内注入平整化有机溶剂,有机溶剂的液面与芯片表面保持3-8mm的距离,将培养皿封闭并置于恒温水浴加热器中,20-40℃条件下保持一定时间,使有机溶剂蒸气浸润微通道,溶解微通道内毛刺和坑洼处,从而实现平整化。平整化方法是通过芯片基材在有机溶剂蒸气中的缓慢腐蚀而实现的,成本低、操作简便,平整化效率高、效果好。

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