公开(公告)号：CN110098723A

公开(公告)日：2019-08-06

申请号：CN201910445655.2

申请日：2019-05-27

Applicant: 富士电机株式会社

Inventor： 松原邦夫 ,  长野刚

IPC: H02M1/08 ,  H02M1/38

Abstract: 若单纯地检测回流电流，则有可能将来自开关元件的寄生电容的放电电流误检测为回流电流而使上下臂短路。本发明提供一种驱动装置，其对反向并联连接有二极管的主开关元件进行导通关断驱动，具备：检测部，其检测漏极端子与源极端子之间的电压；判定部，其基于检测部检测出的检测电压，输出表示从源极端子侧向漏极端子侧是否有回流电流流通的判定信号；以及驱动控制部，其进行分别以接收到使主开关元件导通的导通指令信号和表示有回流电流流通的判定信号被输出为条件而使主开关元件成为导通状态的控制。

公开(公告)号：CN109936280A

公开(公告)日：2019-06-25

申请号：CN201811246108.3

申请日：2018-10-25

Applicant: 富士电机株式会社

Inventor： 松原邦夫 ,  长野刚

IPC: H02M1/08

Abstract: 随着半导体元件的开关速度变快，从关断的开始起到结束为止的期间检测电压等的异常而改变驱动条件逐渐变难。本发明提供一种驱动装置，其具备：驱动半导体元件的栅极驱动部；采样部，其在半导体元件的导通期间对根据流向半导体元件的导通电流而变化的观测值进行采样；变更部，其根据在半导体元件的导通期间采样到的观测值，变更关断半导体元件时栅极驱动部驱动半导体元件的栅极的驱动条件。