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公开(公告)号:CN114496026A
公开(公告)日:2022-05-13
申请号:CN202210081248.X
申请日:2022-01-24
Applicant: 安徽大学 , 合肥市微电子研究院有限公司 , 合肥海图微电子有限公司
IPC: G11C11/413 , G11C8/14 , G11C7/18 , G11C5/14
Abstract: 本发明公开了一种基于极性加固技术的抗辐照SRAM存储电路,包括八个NMOS晶体管和六个PMOS晶体管,PMOS晶体管P3和P4交叉耦合,NMOS晶体管N3、N4和PMOS晶体管P1、P2作为上拉管,NMOS晶体管N1、N2、N5、N6作为下拉管;两个主存储节点Q与QN通过NMOS晶体管N8与N7分别与位线BL和BLB相连,两个冗余存储节点S1与S0通过PMOS晶体管P6与P5分别与位线BL和BLB相连,NMOS晶体管N7、N8由字线WL控制,PMOS晶体管P5、P6由字线WLB控制。上述电路能够提高SRAM存储单元的稳定性,并提高单元抗单粒子翻转能力。
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公开(公告)号:CN114496026B
公开(公告)日:2025-02-14
申请号:CN202210081248.X
申请日:2022-01-24
Applicant: 安徽大学 , 合肥市微电子研究院有限公司 , 合肥海图微电子有限公司
IPC: G11C11/413 , G11C8/14 , G11C7/18 , G11C5/14
Abstract: 本发明公开了一种基于极性加固技术的抗辐照SRAM存储电路,包括八个NMOS晶体管和六个PMOS晶体管,PMOS晶体管P3和P4交叉耦合,NMOS晶体管N3、N4和PMOS晶体管P1、P2作为上拉管,NMOS晶体管N1、N2、N5、N6作为下拉管;两个主存储节点Q与QN通过NMOS晶体管N8与N7分别与位线BL和BLB相连,两个冗余存储节点S1与S0通过PMOS晶体管P6与P5分别与位线BL和BLB相连,NMOS晶体管N7、N8由字线WL控制,PMOS晶体管P5、P6由字线WLB控制。上述电路能够提高SRAM存储单元的稳定性,并提高单元抗单粒子翻转能力。
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公开(公告)号:CN115035931A
公开(公告)日:2022-09-09
申请号:CN202210564062.X
申请日:2022-05-23
Applicant: 安徽大学
IPC: G11C11/418 , G11C11/419 , G11C11/412 , G06F7/575
Abstract: 本发明涉及一种基于8T‑SRAM单元的电路结构、芯片和模块。8T‑SRAM单元包括:NMOS晶体管N1~6;PMOS晶体管P1~2。P1、P2和N1、N2交叉耦合,对存储节点Q、QB的数据进行锁存,P1的源极与P2源极电连接到VDD,开启存储节点Q、QB节点对电源通路,N1的源极与N2的源极连接到VSS,开启存储节点Q、QB节点对地通路。存储节点Q与QB通过晶体管N4、N3分别与位线BL和BLB相连,晶体管N3、N4由字线WL控制,字线LCM、RCM通过晶体管N5、N6分别与位线SLB和SL相连,晶体管N5、N6分别由存储节点Q与QB控制。本发明能实现在存储器内部完成比较操作,提高搜索效率。
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