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公开(公告)号：CN1580783A
公开(公告)日：2005-02-16
申请号：CN200410056713.6
申请日：2004-08-09
Applicant: 夏普株式会社
Abstract: 本发明涉及速度计、位移计、振动计及电子设备。从激光二极管(1)的前端面射出的第一光束(7)由反射镜(5a)反射后，入射至被测物体(13)的表面的检测点(14)，同时从激光二极管(1)的后端面射出的第二光束(8)由反射镜(5b)反射后，入射至检测点(14)。来自检测点(14)的散射光由光电二极管(2)接收。信号处理电路部(10)根据光电二极管(2)的输出S，计算该散射光的频移量。通过这样，提供能够高精度检测被测物体的移动速度的速度计。
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公开(公告)号：CN104508424A
公开(公告)日：2015-04-08
申请号：CN201380039255.2
申请日：2013-07-01
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 和田秀夫
CPC classification number: G01S7/481 , G01C3/24 , G01S7/4813 , G01S17/08 , G01S17/48
Abstract: 本发明提供能够不受温度影响而更加正确地进行测距，并且能够廉价且简便地制造的光学式测距装置和装载该光学式测距装置的电子设备。在光学式测距装置的引线框(9)形成两个以上的第一增强端子(7、8)，该第一增强端子具有在与发光端板部(2)和受光端板部(4)的结合部(6)的延伸方向大致正交的方向上延伸的部分，且由第一遮光性树脂体固定，并且与受光端板部(4)结合。
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公开(公告)号：CN102096464B
公开(公告)日：2014-12-31
申请号：CN201010267419.5
申请日：2010-08-27
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G06F3/01
CPC classification number: G06F3/011 , G06F3/0304
Abstract: 本发明涉及光学式检测装置及电子设备。一种光学式检测装置，具备：面传感器即发光元件(2)、将从发光元件(2)射出的光束照射到测定对象物(20)的发光透镜部(4a)、对来自测定对象物(20)的反射光进行聚光的光接收透镜部(5a)、对由光接收透镜部(5a)聚光的来自测定对象物(20)的反射光进行检测的光接收元件(3)、以及对来自光接收元件(3)的光接收信号进行处理的信号处理部(7)。上述信号处理部(7)基于来自光接收元件(3)的光接收信号，根据光接收元件(3)上的光点位置或光点形状的其中至少一项检测出xy坐标平面上的测定对象物(20)的x坐标或y坐标的其中至少一项。
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公开(公告)号：CN102853809B
公开(公告)日：2014-10-15
申请号：CN201210222556.6
申请日：2012-06-28
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G01C3/00
CPC classification number: G01C3/085
Abstract: 本发明提供一种光学式测距装置及电子设备。该光学式测距装置中，在由遮光性树脂形成的二次模制件（9）及三次模制件（10）之间保持透镜架（11），该透镜架（11）由金属形成，保持发光透镜（5）及受光透镜（6）。透镜架（11）在表面及背面具有凹凸结构（11b）。因为大幅提高发光透镜（5）及受光透镜（6）与透镜架（11）的紧密结合力，所以能够防止发光透镜（5）、受光透镜（6）与透镜架（11）之间发生滑动。
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公开(公告)号：CN100410666C
公开(公告)日：2008-08-13
申请号：CN200410056713.6
申请日：2004-08-09
Applicant: 夏普株式会社
Abstract: 本发明涉及速度计、位移计、振动计及电子设备。从激光二极管(1)的前端面射出的第一光束(7)由反射镜(5a)反射后，入射至被测物体(13)的表面的检测点(14)，同时从激光二极管(1)的后端面射出的第二光束(8)由反射镜(5b)反射后，入射至检测点(14)。来自检测点(14)的散射光由光电二极管(2)接收。信号处理电路部(10)根据光电二极管(2)的输出S，计算该散射光的频移量。通过这样，提供能够高精度检测被测物体的移动速度的速度计。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1648599A
公开(公告)日：2005-08-03
申请号：CN200510054185.5
申请日：2005-01-07
Applicant: 夏普株式会社
Abstract: 本发明揭示光学式移动信息检测装置和具有该装置的电子机器，由射束分裂器(2a，2b)将激光二极管(1)射出的光分割为第1光束(10)、第2光束(11)和第3光束(12)。用聚光透镜(4)在被测定物(5)表面聚光第1光束、第2光束和第3光束，在被测定物(5)表面形成电子束光点(13)。由光电二极管(6)接收来自电子束光点(13)的扩散光，由具有模拟/数字变换器(8)和高速傅里叶变换演算器(9)的信号处理电路(20)处理光电二极管(6)输出的信号。检测部(21)根据由傅里叶变换得到的频谱的峰值频率，求出被测定物(5)的例如移动速度和移动方向。
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公开(公告)号：CN1591020A
公开(公告)日：2005-03-09
申请号：CN200410085652.6
申请日：2004-09-02
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G01S17/58 , G01P3/366 , G01S7/4811
Abstract: 提供一种光学速度计，用于实现其小型化和低功耗，并且精确检测被测物体的二维移动速度。该光学速度计包括一个光发射元件，一个衍射光栅，两个光接收部和一个信号处理电路。光发射元件发出的光由衍射光栅分成三束光通量，被分开的光通量的光轴在被测物体上彼此相交形成一检测点。然后由两个光接收部接收从检测点发出的、由被测物体移动引起频移的散射光，光接收部输出的一个光接收信号在信号处理电路中被处理，以检测被测物体的两个方向的移动速度。
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公开(公告)号：CN1589502A
公开(公告)日：2005-03-02
申请号：CN02823267.4
申请日：2002-12-10
Applicant: 夏普株式会社
IPC: H01L31/0216
CPC classification number: H01L31/103 , H01L31/02161
Abstract: 一种光接收装置包括硅衬底100、在所述衬底100上的第一P型扩散层101、以及在所述第一P型扩散层101上的P型半导体层102。在所述P型半导体层102表面部分上，设置两个N型扩散层103和103作为光接收部分，并且设置第二P型扩散层104在所述两个N型扩散层103和103之间。在所述P型半导体层102上，设置由通过热氧化形成的第一氧化硅107以及通过CVD形成的第二氧化硅108组成的抗反射薄膜结构106。所述第一氧化硅107的薄膜厚度设定为大约15nm，因此防止在所述第一氧化硅107与所述P型半导体层102之间的界面上的缺陷。所述第二氧化硅108的薄膜厚度设定为大约100nm，因此当长时间施加电源电压时防止在阴极之间的漏电流。
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公开(公告)号：CN104508424B
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201380039255.2
申请日：2013-07-01
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 和田秀夫
CPC classification number: G01S7/481 , G01C3/24 , G01S7/4813 , G01S17/08 , G01S17/48
Abstract: 本发明提供能够不受温度影响而更加正确地进行测距，并且能够廉价且简便地制造的光学式测距装置和装载该光学式测距装置的电子设备。在光学式测距装置的引线框(9)形成两个以上的第一增强端子(7、8)，该第一增强端子具有在与发光端板部(2)和受光端板部(4)的结合部(6)的延伸方向大致正交的方向上延伸的部分，且由第一遮光性树脂体固定，并且与受光端板部(4)结合。
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公开(公告)号：CN102192723B
公开(公告)日：2014-07-09
申请号：CN201110009510.1
申请日：2011-01-18
Applicant: 夏普株式会社 , 原相科技股份有限公司
IPC: G01C3/00
CPC classification number: G01C3/085
Abstract: 本发明提供了一种光学式测距传感器，其包括：发光部，对被测定物体照射光束；光接收部，形成上述被测定物体对上述光束的反射光的光斑；以及处理电路部，对来自上述光接收部的输出信号进行处理，从而检测到上述被测定物体的距离。上述光接收部包括在第一方向和正交于该第一方向的第二方向上以矩阵状配置多个光接收单元的有效光接收部，该第一方向是当上述被测定物体在上述发光部的光轴方向上移动时上述光斑的位置所移动的方向。上述有效光接收部在上述第二方向上的尺寸为，上述光斑的半径以上并且直径以下。
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