一种具有减反射特性的亚波长硅纳米线阵列的制备方法

    公开(公告)号:CN103030100A

    公开(公告)日:2013-04-10

    申请号:CN201310007946.6

    申请日:2013-01-09

    Abstract: 本发明属于纳米技术领域,特别涉及一种具有减反射特性的亚波长硅纳米线阵列的制备方法。本发明采用n型(100)硅片,利用高真空磁控溅射技术在其表面沉积具有网状结构的银膜,然后采用湿法刻蚀技术,在硅表面获得具有减反射特性的亚波长锥形硅纳米线阵列,经测试,其反射率低于1%。本发明首次利用银膜催化刻蚀硅技术,具有无掩模与常温常压的工艺特征,操作简单,重复性与可控性好,为制备具有亚波长尺度的超减反硅表面纳米结构提供了新思路,为设计和构建新型高效硅太阳能电池提供了材料基础。

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