一种高性能SmFe基永磁薄膜材料的高通量制备方法

    公开(公告)号:CN115491644B

    公开(公告)日:2024-04-09

    申请号:CN202210925713.3

    申请日:2022-08-03

    Abstract: 本发明公开一种高性能SmFe基永磁薄膜材料的高通量制备方法。其中薄膜材料包括衬底和衬底上生长的SmFe基稀土永磁薄膜。其中主要制备步骤包括:1)对衬底进行表面处理后,沉积一定厚度的(SmaRE1‑a)2Fe17合金薄膜;2)对合金薄膜进行N离子注入,获得N含量在不同区域连续变化的梯度薄膜;3)将梯度薄膜进行真空热处理,获得(SmaRE1‑a)2Fe17Nx薄膜;4)测试薄膜不同区域的成分及磁性能。采用离子注入机对SmFe基稀土合金薄膜进行N离子注入,克服了传统方法中氮化效率低、氮化程度难以控制的难题;经过真空热处理可高通量制备(SmaRE1‑a)2Fe17Nx梯度薄膜;结合高通量测试表征,可快速确定薄膜的最佳N含量,大幅节约实验成本;最终可获得性能可控、一致性高的SmFe基永磁薄膜材料。

    钕铁硼电阻率测量系统及其测量方法

    公开(公告)号:CN113466557A

    公开(公告)日:2021-10-01

    申请号:CN202110548090.8

    申请日:2021-05-19

    Abstract: 本发明公开了一种钕铁硼电阻率测量系统,包括:UPS电源、控制电脑、测试主机、探针装置,UPS电源用于给测试主机提供电源;控制电脑接收输入的测试参数,控制测试主机进行连续测量,接收输入的探针电压,根据探针电压得出钕铁硼试样的电阻率;测试主机通过导线连接UPS电源,通过信号线连接控制电脑,用于输出设定电流,测定在设定电流下的探针电压,并将探针电压通过信号线传递给控制电脑;探针装置包括四个探针,探针通过导线连接测试主机,用于接触钕铁硼试样表面。本发明还公开了一种钕铁硼电阻率测量方法。本发明能够正确评估磁体在电机中不同工况的使用状况,减少钕铁硼性能的不确定性。

    用于永磁体的多物理场老化测试系统

    公开(公告)号:CN218726880U

    公开(公告)日:2023-03-24

    申请号:CN202222815327.7

    申请日:2022-10-25

    Abstract: 本实用新型公开了一种用于永磁体的多物理场老化测试系统,包括测试平台主体和控制单元;所述测试平台主体包括:保温单元,其具有容纳空间;加热与温控单元,其包括加热平台,所述加热平台设置于所述容纳空间内,且所述待测永磁体位于所述加热平台上;振动单元,其设置于所述加热平台的下方并位于所述容纳空间的外部,设置为使得所述待测永磁体发生振动;磁场产生单元,其设置为在所述待测永磁体的周围空间产生磁场;所述控制单元分别与所述加热与温控单元、振动单元和磁场产生单元相连。该多物理场老化测试系统可以为待测永磁体提供更接近实际的电机模拟服役环境。

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