SFQ时序电路综合计算方法、系统以及终端

    公开(公告)号:CN113095015B

    公开(公告)日:2024-05-24

    申请号:CN202110500919.7

    申请日:2021-05-08

    Abstract: 本发明的SFQ时序电路综合计算方法、系统以及终端,分别对SFQ逻辑门状态机的状态机描述分别进行解释以及编译获得该状态机的状态转移集合信息,并对所述状态转移集合信息分解为一或多个子状态机,并将各子状态机与SFQ逻辑单元库中的各单元门进行映射,并基于各子状态机的映射结果,对各子状态机进行重组,以获得SFQ时序逻辑电路结构。本发明利用了SFQ逻辑门自有的优势,直接完成从SFQ逻辑门状态机到SFQ时序电路的逻辑映射,减少了中间模拟CMOS逻辑门、组成CMOS时序状态机的两步操作,提高了SFQ时序电路的逻辑综合成功率以及对SFQ单元库的利用率,使SFQ时序电路的大规模自动化设计更加高效,并解决现有技术的问题。

    超导集成电路布局优化方法和装置、存储介质和终端

    公开(公告)号:CN113627120B

    公开(公告)日:2023-09-12

    申请号:CN202111094793.4

    申请日:2021-09-17

    Inventor: 杨树澄 任洁 王镇

    Abstract: 本发明公开了一种超导集成电路布局优化方法和装置、存储介质和终端,其中方法包括:对待布局网表进行模块化处理获取分割模块,并对所有分割模块进行布局优化得到优化电路布局;其中,对分割模块进行布局优化包括:确定分割模块所需布局空间大小;对分割模块中所有逻辑门单元进行位置排布优化;将结果映射到布局规划中获取分割模块的版图布局;将分割模块中的所有汇流缓冲器单元放置到版图布局中,并通过第二全局优化器对版图布局中的所有单元进行位置优化,而后对版图布局中所有包含时钟的逻辑门单元进行时钟优化;本发明实现大规模超导集成电路的自动版图布局优化,替代原有的手动设计流程,提高超导集成电路的设计规模并缩短设计迭代周期。

    一种互补型超导周期比较器及模数转换器

    公开(公告)号:CN116545419A

    公开(公告)日:2023-08-04

    申请号:CN202310540283.8

    申请日:2023-05-12

    Inventor: 李楒琪 任洁 王镇

    Abstract: 本发明提供一种互补型超导周期比较器及模数转换器包括:输入模块将接收到的单磁通量子时钟信号进行单向传输,并阻止回流电流对前级电路进行干扰;互补型超导量子干涉模块的输入端与模拟信号及输入模块的输出端连接,使模拟信号工作在超导量子干涉模块内部的基准信号的参数范围内,并通过对比模拟信号、基准信号及单磁通量子时钟信号输出对应的比较结果;传输模块的输入端与互补型超导量子干涉模块的输出端连接,基于所述比较结果产生用于传输的对应的单磁通量子输出信号。能够降低功耗的同时极大降低电路面积以及复杂度,提升模数转换的准确性。

    延时测试电路及延时测试方法
    24.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116413586A

    公开(公告)日:2023-07-11

    申请号:CN202111670510.6

    申请日:2021-12-31

    Abstract: 本发明提供一种延时测试电路,至少包括环振电路延时测试模块,该模块包括汇流器单元、分路器单元、第一接口单元、N个待测单元及M个第一分频器单元;N个待测单元级联,第一个待测单元的输入端连接汇流器单元的输出端,最后一个待测单元的输出端连接分路器单元的输入端;M个第一分频器单元级联,第一个第一分频器单元的输入端连接分路器单元的一路输出端,最后一个第一分频器单元的输出端连接第一接口单元的输入端;汇流器单元的第一输入端接入第一激励信号,第二输入端连接分路器单元的二路输出端;第一接口单元的输出端产生第一数字电压信号。通过本发明提供的延时测试电路,解决了现有方案无法对超过2个结的传输线进行有效延时测试的问题。

    超导数字单元的精细优化方法及电路

    公开(公告)号:CN111460749B

    公开(公告)日:2022-12-06

    申请号:CN202010326631.8

    申请日:2020-04-23

    Abstract: 本发明提供一种超导数字单元的精细优化方法及电路,包括:1)对待优化的超导数字单元进行全局优化,得到对应的网表、激励信息;2)对超导数字单元中的各指标依次进行分组优化,若优化结果可接受则将优化后的参数更新至网表后进行下一指标的优化,否则直接执行下一指标的优化;3)将最终的优化结果更新至超导数字单元所在电路中,完成固化。本发明将精细优化的流程参数进行了分组考虑,省时且可以更好地收敛,更快地得到最优参数搭配;在得到某个可接受的参数后,无需更改电路图上元器件的参数、导出网表后再进行优化,而是直接在网表中修改该参数后进入下一优化环节,进一步缩减优化单元所消耗的时间,降低在多步操作中有可能带来的错误。

    超导SFQ标准工艺参数线下自动检测系统

    公开(公告)号:CN113049908B

    公开(公告)日:2022-11-11

    申请号:CN202110442272.7

    申请日:2021-04-23

    Abstract: 本申请提供的一种超导SFQ标准工艺参数线下自动检测系统,所述系统包括:两台可编程高精度直流电流源,为待测单元提供激励电流;可编程高精度电压表,测量待测单元电压;可编程开关矩阵,分别接入各可编程高精度直流电流源和可编程高精度电压表,并连接到一或多个待测单元;低通滤波模块,分别接于两台可编程高精度直流电流源、及可编程高精度电压表与可编程开关矩阵之间,以滤除高频噪声;上位机,用于与可编程模块进行通讯交互;接线端子板,与测试治具连接以装载待测单元。本申请能够提高超导SFQ标准工艺参数线下检测的精度和效率。

    接口电路、接口模块及应用系统

    公开(公告)号:CN114944839A

    公开(公告)日:2022-08-26

    申请号:CN202210418870.5

    申请日:2022-04-20

    Abstract: 本发明提供一种接口电路,包括:第一约瑟夫森结,第一端连接第一电感的第一端和第二电感的第一端并接入第一偏置电流,第二端接地;第一电感的第二端接入超导时钟信号;第二电感的第二端连接第二约瑟夫森结的第一端;第二约瑟夫森结的第二端连接第三约瑟夫森结的第一端、第三电感的第一端及第四电感的第一端;第三约瑟夫森结的第二端接地;第三电感的第二端接入CMOS数据信号;第四电感的第二端连接第五电感的第一端并接入第二偏置电流;第五电感的第二端产生超导输出信号。通过本发明的接口电路,突破了传统设计,提供一种新的非归零CMOS‑RSFQ接口电路。

    超导逻辑器件时序参数的测量电路及测量方法

    公开(公告)号:CN114814423A

    公开(公告)日:2022-07-29

    申请号:CN202210420508.1

    申请日:2022-04-20

    Abstract: 本发明提供一种超导逻辑器件时序参数的测量电路,包括第一输入接口单元、输出接口单元、分路器单元、至少两个第一缓冲器单元、至少一个第二缓冲器单元、至少一个第三缓冲器单元及至少两个第四缓冲器单元;分路器单元的输入端通过级联的至少两个第一缓冲器单元连接至第一输入接口单元,第一输出端通过至少一个第二缓冲器单元连接至待测逻辑器件的数据端,第二输出端通过至少一个第三缓冲器单元连接至待测逻辑器件的时钟端;待测逻辑器件的输出端通过级联的至少两个第四缓冲器单元连接至输出接口单元;其中,第二缓冲器单元和第三缓冲器单元的数量相同。通过本发明提供的测量电路,解决了现有技术中无此种测量电路的问题。

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