一种多通道三维光学检测装置

    公开(公告)号:CN208984518U

    公开(公告)日:2019-06-14

    申请号:CN201821356997.4

    申请日:2018-08-22

    Abstract: 本实用新型公开了一种多通道三维光学检测装置,用于转盘电极原子化室的检测,所述转盘电极原子室包括棒电极、盘电极以及样品杯,棒电极位于盘电极的上方,样品杯设置于盘电极的下方,样品杯用于放置待检测物品,所述多通道三维光学检测装置包括光纤传感器,光纤传感器的发射管设置在样品杯的一侧,光纤传感器的接收管设置在样品杯的另一侧,以和发射管相对。通过采用光纤传感器的方式,通过对射检测物体,无需接触物体,即可以检测出物体是否到位,从而检测出转盘电极原子化室各部件是否安装到位。同时,通过采用光纤传感器(即光学)的检测的方式,可抗电磁干扰。

    快速设定光谱分析间隙的记忆机构

    公开(公告)号:CN209215197U

    公开(公告)日:2019-08-06

    申请号:CN201821402024.X

    申请日:2018-08-28

    Abstract: 本实用新型公开了一种快速设定光谱分析间隙的记忆机构,通过压杆机构的压下状态使滑动机构发生位移,同时由滑动机构刚性带动棒压紧机构上的棒电极一起移动,由于棒电极一端顶在固定底座一端的盘电极上,迫使棒电极与棒压紧机构之间发生位移,当压杆机构恢复弹起状态时,滑动机构带动棒压紧机构和棒电极做复位运动,直到滑动机构一端与微调机构的一端相接触即停止移动,此时棒电极与盘电极的间隙即为光谱分析间隙。本装置可实现光谱分析间隙的快速设定,并且使该间隙的宽度完全由高可靠性机械机构记忆,从而保证分析间隙不受外界因素干扰,具有长期稳定性和重复性,为保证光谱分析仪器的准确性和可靠性奠定基础。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    ATP荧光快速检测仪全避光检测装置

    公开(公告)号:CN203222589U

    公开(公告)日:2013-10-02

    申请号:CN201320194690.X

    申请日:2013-04-17

    Abstract: 本实用新型公开了一种ATP荧光快速检测仪全避光检测装置,包括有相互连接的光电检测器和检测室,在检测室上连接检测室盖;所述检测室内设有检测通道,所述检测通道的垂直截面为L型,检测通道顶端开有放样孔,底端右侧开有通光孔,检测室顶端设有第一挡光壁,第一挡光壁处于放样孔的外沿上方,在通光孔外的检测室表面上设有第二挡光壁,所述光电检测器连接在第二挡光壁所在的检测室侧面上,通光孔与所述光电检测器内相通;检测室盖底面设有第三挡光壁,其与所述第一挡光壁相匹配,在检测室盖旁侧设有固定转轴孔,前端设开启凹槽。由于检测室与检测盖分离,这样不仅简化了结构,而且方便了仪器的安装。

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