公开(公告)号：CN109918297B

公开(公告)日：2022-07-19

申请号：CN201910126338.4

申请日：2019-02-20

Applicant: 中国信息通信研究院

Inventor： 詹鹏翼 ,  路晔绵 ,  魏凡星 ,  李煜光 ,  国炜 ,  潘娟

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明提供了一种终端模糊测试方法及装置，所述方法包括：根据被检测终端证书的类型，生成相应类型的模糊测试异常证书；抽取被检测终端校验证书模块的API；根据所述API，将所述模糊测试异常证书导入所述被检测终端并运行；监控并记录被检测终端产生的异常参数信息并输出报告。应用本发明能高效地对证书校验模块的安全性进行全方位的评估，可以广泛应用于智能终端和物联网设备的安全性检测，该测试工具不仅可以实时准确地捕捉异常的产生，更具有高度自动化、运行灵活、易于移植等特点。

公开(公告)号：CN108228373B

公开(公告)日：2021-05-25

申请号：CN201711429672.4

申请日：2017-12-26

Applicant: 中国信息通信研究院

Inventor： 魏凡星 ,  毕子祥 ,  傅山 ,  王嘉义

IPC: G06F11/07

Abstract: 本发明提供了一种芯片故障注入检测设备及方法，其中，该设备包括：控制装置，用于在故障注入检测过程中，接收到待测芯片热启动失败的反馈结果时，发送冷启动指令至故障注入装置；故障注入装置，用于根据所述冷启动指令，驱动所述冷启动装置启动，产生冷启动触发控制信号，将冷启动触发控制信号发送至冷启动装置；冷启动装置，与所述故障注入装置和待测芯片连接，用于根据所述冷启动触发控制信号，驱动待测芯片冷启动。上述技术方案实现了在故障注入检测过程中待测芯片热启动失败时，可自动重启待测芯片，降低了芯片故障注入检测的人工工作量，节约芯片故障注入检测的人力成本，提高了芯片故障注入检测的效率。

公开(公告)号：CN109583235A

公开(公告)日：2019-04-05

申请号：CN201811474308.4

申请日：2018-12-04

Applicant: 中国信息通信研究院

Inventor： 傅山 ,  魏凡星 ,  国炜 ,  潘娟 ,  李煜光 ,  王嘉义

IPC: G06F21/62

CPC classification number: G06F21/6209

Abstract: 本发明提供一种密码芯片中的密钥的获取方法及系统，利用多元线性回归的方法，可以有效提高密钥恢复的效率，无论密钥长度为多少，都可以同时恢复得到密钥的多个比特，相较于传统的单比特的分析方法，加快了密钥分析的速度，节约检测时间，提高检测效率，具有显著的优势。同时，本发明利用多元线性回归的方法进行能量分析，轮输出的变化并不会影响中间值与能量迹之间的相关性，这种分析方法对使用了掩码的密码算法非常有效，可以大大提高攻击的成功率，此外，本发明还具有很强的可扩展性，对于具有类似算法结构的密码算法同样适用。