公开(公告)号：CN110887568A

公开(公告)日：2020-03-17

申请号：CN201911220794.1

申请日：2019-12-03

Applicant: 上海航天测控通信研究所

Inventor： 杨永键 ,  李向芹 ,  谢振超 ,  李尊良 ,  邙晓斌 ,  钱志鹏

IPC: G01J5/00

Abstract: 本发明公开了一种月球观测系统由天文望远镜、地基微波辐射计、二维扫描机构和控制器组成，系统结构简单，易于实现。其中地基微波辐射计安装在二维转台上，由天文望远镜获取月球初始位置俯仰角度，由控制器对初始位置进行校准，并控制二维转台对月球轨迹进行自动跟踪扫描；月球亮温信号经天线反射进入天馈系统，极化分离后进入辐射接收机，经检波后可实时获取电压采集信号及方差曲线，并可同时计算得到月球亮温值，有效地提升了测试效率。本发明具有一定的通用性，可应用于基于不同频段地基微波辐射计的月球亮温测量中，探究微波辐射特性的稳定性和时间分布特性。

公开(公告)号：CN110850350A

公开(公告)日：2020-02-28

申请号：CN201911214419.6

申请日：2019-12-02

Applicant: 上海航天测控通信研究所

Inventor： 李向芹 ,  谢振超 ,  姚崇斌 ,  李尊良 ,  邙晓斌 ,  李雪 ,  杨永键 ,  瞿浩 ,  王海

IPC: G01R35/00

Abstract: 本发明公开了一种大口径多反射面级联天线链路损耗测试装置及方法，该装置包括星上热定标源、冷空反射镜、旋转扫描镜、接收组件、第一低温参考源、第二低温参考源、高温参考源和聚束反射面，并形成以下信号通道：第一信号通道：星上热定标源→旋转扫描镜→接收组件；第二信号通道：第一低温参考源→冷空反射镜→旋转扫描镜→接收组件；第三信号通道：高温参考源→聚束反射面→多反射面级联天线→旋转扫描镜→接收组件；第四信号通道：第二低温参考源→聚束反射面→多反射面级联天线→旋转扫描镜→接收组件。本发明可完成5m口径的多反射面级联天线链路损耗测试。

公开(公告)号：CN110470602A

公开(公告)日：2019-11-19

申请号：CN201910799919.4

申请日：2019-08-27

Applicant: 上海航天测控通信研究所

Inventor： 姜丽菲 ,  李恩晨 ,  姚崇斌 ,  徐红新 ,  谢振超 ,  李向芹 ,  李雪

IPC: G01N21/01 ,  G01N21/53 ,  G01N21/85

Abstract: 本发明提供了一种星载太赫兹多角度冰云成像仪，包括转动单元；所述转动单元包括平面反射面天线、抛物面反射面天线以及多个频段的馈源喇叭和接收机；所述平面反射面天线，用于接收冰云辐射信号，并将所述冰云辐射信号反射至所述抛物面反射面天线；所述抛物面反射面天线，用于将所述冰云辐射信号反射至所述多个频段的馈源喇叭和接收机；所述多个频段的馈源喇叭和接收机，用于接收所述冰云辐射信号。本发明中第一驱动机构用于驱动所述平面反射面天线的角度，使得所述平面反射面天线能够以不同角度进行冰云探测。本发明能够探测冰粒子有效半径在50～800um范围内的冰云，且多角度探测能够反演冰粒子形状因子。

公开(公告)号：CN110044490A

公开(公告)日：2019-07-23

申请号：CN201910424018.7

申请日：2019-05-21

Applicant: 上海航天测控通信研究所

Inventor： 李宁杰 ,  李贝贝 ,  刘瑞 ,  杨永键 ,  李向芹 ,  谢振超 ,  徐红新 ,  翁艺航 ,  姜丽菲 ,  钱志鹏

IPC: G01J5/00

Abstract: 本发明公开了快速切换式发射率测量装置及测量方法，该装置包括：源体、切换式支架、椭球镜、辐射接收单元、数据处理单元；切换式支架用于标准件和待测件的固定及标准件和待测件两者的位置快速切换；源体用于向标准件或待测件发射热辐射和冷辐射；椭球镜用于对标准件或待测件反射的热辐射和冷辐射进行聚束；辐射接收单元用于接收椭球镜聚束的热辐射或冷辐射并转化为冷热辐射电压值信号；数据处理单元用于根据冷热辐射电压值信号，计算待测件的发射率；其中，切换式支架包括旋转支座、定位底座，旋转支座设于定位底座上，旋转支座绕旋转支座的旋转轴旋转，以切换标准件和待测件两者的位置，定位底座设有定位件，定位件用于旋转支座的旋转位置定位。

公开(公告)号：CN108760770A

公开(公告)日：2018-11-06

申请号：CN201810507518.2

申请日：2018-05-24

Applicant: 上海航天测控通信研究所

Inventor： 李向芹 ,  谢振超 ,  周辉 ,  刘兰波

IPC: G01N22/00

CPC classification number: G01N22/00

Abstract: 本发明涉及一种热控涂层损耗测试装置及方法，其中，测试装置包括一底板以及设置在底板上的N个椭球镜、(N‑1)个标准金属片、(N‑1)个热控涂层试片、馈源喇叭，所述(N‑1)个标准金属片和(N‑1)个热控涂层试片可替换设置在所述底板上，所述N个椭球镜与所述(N‑1)个标准金属片/热控涂层试片级联，所述装置入口处分别放置冷辐射信号和热辐射信号，所述冷辐射信号和热辐射信号依次经过交替的椭球镜、标准金属片/热控涂层试片进入馈源喇叭，所述馈源喇叭与接收组件连接，通过所述接收组件输出值计算热控涂层试片的微波损耗。本发明通过将多个热控涂层试片级联提高热控涂层损耗的测试精度，解决了一般损耗测试装置测试精度低的问题。