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公开(公告)号：CN101308686B
公开(公告)日：2013-04-10
申请号：CN200810109385.X
申请日：2005-01-28
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B20/12
CPC classification number: G11B20/1217 , G06F12/0246 , G11B20/1883 , G11B27/329 , G11B2020/1275 , G11B2020/1278 , G11B2020/1295 , G11B2020/1873 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/237 , G11B2220/2537
Abstract: 一种一次写入盘，包括：预定种类的更新信息被记录在其中的多个更新区；主访问信息被记录在其中的至少一个主访问信息区，该主访问信息指示在所述多个更新区之中最终更新的信息被记录在其中的最终更新区；和子访问信息被记录在其中的至少一个子访问信息区，该子访问信息指示记录在最终更新区中的最终更新的信息的位置。因此，可减少用于读取使用该一次写入盘所需的预定种类的信息的访问时间。
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公开(公告)号：CN101233566B
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN200680027333.7
申请日：2006-05-25
CPC classification number: G06F12/1458 , G11B19/04 , G11B19/122 , G11B20/00086 , G11B20/00152 , G11B20/00702 , G11B23/288 , G11B2220/215 , G11B2220/2537
Abstract: 一种包含虚拟写保护信息的光学介质可以被记录在驱动器和系统中而不用通过接收有效用户输入而首先将写保护从打开改变为关闭。虚拟写保护还可以通过盘上的附加信息被启用或禁用。
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公开(公告)号：CN102396026A
公开(公告)日：2012-03-28
申请号：CN201080016936.3
申请日：2010-04-14
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B27/329 , G11B2220/235 , G11B2220/2537
Abstract: 提供了一种信息存储介质。所述信息存储介质包括：用户数据区，记录用户数据；临时盘管理区，记录表示用户数据区的至少一个记录/再现单元块的记录状态的空间位图。所述空间位图包括：关于额外空间位图的信息，所述额外空间位图响应于空间位图的空间不足以表示用户数据区的至少一个记录/再现单元块的记录状态而被分配。
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公开(公告)号：CN101320583B
公开(公告)日：2011-09-28
申请号：CN200810131869.4
申请日：2005-05-08
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B19/04 , G11B19/02 , G11B19/12 , G11B20/00086 , G11B20/00702 , G11B20/1217 , G11B20/1883 , G11B2020/1278 , G11B2020/1826 , G11B2220/20
Abstract: 一种用于确定是否重新初始化信息记录介质的设备，包括：拾取器，发射或接收光以相对于所述介质传送数据，所述介质包括存储至少一种访问控制数据的访问控制区域，其中，访问控制数据包括共同信息和关于预定功能的信息，共同信息包括访问控制数据的标识符、关于信息记录介质的重新初始化的信息和关于信息记录介质上的多个区域中的每个的可记录性和/或可再现性的信息，当预定功能不可识别时，将使用关于信息记录介质上的多个区域中的每个的可记录性和/或可再现性的信息；控制器，使用关于不可识别功能的访问控制数据中所包括的关于重新初始化的信息和关于可识别功能的访问控制数据中所包括的关于重新初始化的信息确定是否重新初始化介质。
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公开(公告)号：CN102157159A
公开(公告)日：2011-08-17
申请号：CN201110025317.7
申请日：2007-11-07
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/004
CPC classification number: G11B20/1217 , G11B20/1883 , G11B2020/10861 , G11B2020/1288 , G11B2020/1873 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/2541
Abstract: 提供一种记录/再现方法、记录/再现设备及信息存储介质。将数据记录到信息存储介质的方法包括：根据使用信息存储介质的方法的变化，重新排列具有可变大小的第一信息结构和具有固定大小的第二信息结构的顺序，所述第一信息结构和第二信息结构都被包括在信息存储介质的管理信息中，从而可将具有可变大小的第一信息结构放置在具有固定大小的第二信息结构之后；并在信息存储介质上记录重新排列的管理信息。根据所述方法和设备，可在最终的信息存储介质的固定的位置找到记录管理信息，从而允许容易地和迅速地找到记录管理信息。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101083123B
公开(公告)日：2011-07-27
申请号：CN200710126966.X
申请日：2003-09-23
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B20/18
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1873 , G11B2220/20
Abstract: 一种用于使用盘中的临时缺陷管理区域来管理盘中的盘缺陷的方法和设备，以及盘，其中，该方法包括：将用户数据记录在数据区域中；和将关于记录在数据区域中的用户数据的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息记录在存在于引入区域和引出区域的至少一个中的临时缺陷管理区域中。因此，该方法和设备可应用到可记录的盘并且能够有效地使用缺陷管理区域。
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公开(公告)号：CN101783158A
公开(公告)日：2010-07-21
申请号：CN201010122496.1
申请日：2005-12-12
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B20/1217 , G11B20/1879 , G11B27/3027 , G11B2020/10907 , G11B2020/1222 , G11B2020/1277 , G11B2020/1873 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/218
Abstract: 提供一种执行RMW的记录/再现设备及其记录/再现方法。在逻辑盖写(LOW)替换的区中记录用于更新记录在信息存储介质上的数据的替换数据，在缺陷替换的区中记录用于替换介质上出现的缺陷的替换数据；如果在对记录在介质的预定区中的原始块的至少部分数据进行LOW的读-修改-写(RMW)处理期间所述原始块中产生缺陷，则在LOW替换的区中记录替换原始块的替换块；以及产生包括原始块的位置信息和替换块的位置信息的缺陷列表(DFL)条目以指示替换状态。
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公开(公告)号：CN101202088B
公开(公告)日：2010-06-02
申请号：CN200710167065.5
申请日：2004-04-29
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B20/18 , G11B7/0037
Abstract: 一种将临时缺陷列表记录在一次写入记录介质上的方法，一种再现该临时缺陷列表的方法，一种用于记录和/或再现临时缺陷列表的设备，以及一次写入记录介质。将用于缺陷管理的临时缺陷列表记录在一次写入记录介质上的方法包括：将当数据被记录在一次写入记录介质上时被创建的临时缺陷列表记录在一次写入记录介质的至少一簇中，并且检验在该至少一簇中是否产生缺陷。随后，该方法包括：将原始记录在缺陷簇中的数据重新记录在另一簇中，并且将指示记录临时缺陷列表的该至少一簇的位置的指针信息记录在一次写入记录介质上。
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公开(公告)号：CN101075463B
公开(公告)日：2010-06-02
申请号：CN200710126912.3
申请日：2005-06-10
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B20/12
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B19/122 , G11B20/1217 , G11B20/1252 , G11B20/1262 , G11B2007/0006 , G11B2007/0013 , G11B2020/1229 , G11B2020/1259 , G11B2020/1275 , G11B2020/1278 , G11B2220/215 , G11B2220/235 , G11B2220/2537
Abstract: 一种记录和/或再现设备，一种记录和/或再现方法，以及一种信息存储介质，其中，该记录和/或再现设备包括：写和/或读单元，将数据写入具有一个或多个信息记录层的信息存储介质或从具有一个或多个信息记录层的信息存储介质读取数据；和控制单元，控制写和/或读单元以通过参考包括与信息存储介质的记录特征相应的记录相关参数信息和记录相关参数被应用到记录特征信息的一个或多个盘信息结构来将数据写入信息存储介质。根据该设备和方法，适合记录和/或再现设备的记录特征的参数以及不同规格之间的兼容性可被实现。
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公开(公告)号：CN100592407C
公开(公告)日：2010-02-24
申请号：CN200610162776.9
申请日：2004-04-22
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B7/00375 , G11B7/00736 , G11B20/1883 , G11B27/329 , G11B2020/1873 , G11B2220/20 , G11B2220/218
Abstract: 一种用于记录介质缺陷管理的方法和驱动器，以及一种缺陷管理记录介质。该缺陷管理方法包括：当TDMS的更新开始时写入指定临时缺陷管理结构(TDMS)的更新周期被打开的第一状态信息，TDMS包含关于临时缺陷管理的信息；当数据被写入信息存储介质或从信息存储介质中被读取时更新TDMS；和当TDMS的更新完成时写入指定TDMS的更新周期被关闭的第二状态信息。
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