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公开(公告)号:CN114641678B
公开(公告)日:2025-02-25
申请号:CN202180006125.3
申请日:2021-05-24
Applicant: ams传感器新加坡私人有限公司
Inventor: 弗朗西斯科.保罗.德阿莱奥 , 哈维尔.米格尔桑切斯 , 石崎幸太郎 , 彼得.伦琴
Abstract: 根据本发明的第一方面,提供了一种使用检测系统测量目标的光学反射率R的方法,该检测系统包括彼此间隔开的光发射器和光检测器。该方法包括用光发射器照射目标,使用光检测器检测从目标反射的光,其中光检测器提供指示检测到的光的强度的电输出信号SS,以及根据下式确定目标的光学反射率R:#imgabs0#其中RR是参考标准的光谱反射率,SR是在参考标准就位的情况下的检测器电输出信号,SH是在光发射器和光检测器前面没有目标的情况下的检测器电输出信号,并且M是校准因子。
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公开(公告)号:CN113039415A
公开(公告)日:2021-06-25
申请号:CN201980075161.8
申请日:2019-11-13
Applicant: ams传感器新加坡私人有限公司
Inventor: 詹姆斯.艾勒森 , 哈维尔.米格尔桑切斯
IPC: G01J3/42
Abstract: 一种示例系统包括第一光谱仪、第二光谱仪以及可通信地耦合到第一光谱仪和第二光谱仪的电子控制设备。第一光谱仪可操作以使用第一光源朝着第一光谱仪和第二光谱仪之间的样本区域发射第一光。第一光谱仪还可操作以使用第一光电检测器测量从样本区域中的对象反射的第一反射光。第二光谱仪可操作以使用第二光电检测器测量透射通过对象的第一透射光。电子控制设备可操作以基于测量的第一反射光或测量的第一透射光中的至少一个来确定与对象对应的光的光谱分布。
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公开(公告)号:CN112740076A
公开(公告)日:2021-04-30
申请号:CN201980061635.3
申请日:2019-09-13
Applicant: ams传感器新加坡私人有限公司
Inventor: 哈维尔.米格尔桑切斯 , 米格尔.布鲁诺.维罗帕诺斯
Abstract: 在示例实施方式中,使用传感器模块的光电检测器获得第一光测量。第一光测量至少部分对应于传感器模块的环境中的环境光。使用传感器模块的光源产生调制光,并且使用传感器模块的光电检测器获得第二光测量。第二光测量至少部分对应于从对象向光电检测器反射的调制光。基于第一测量、第二光测量和调制光,使用电子控制设备来估计传感器模块和对象之间的距离。
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