光学检测系统校准
    11.
    发明授权

    公开(公告)号:CN114641678B

    公开(公告)日:2025-02-25

    申请号:CN202180006125.3

    申请日:2021-05-24

    Abstract: 根据本发明的第一方面,提供了一种使用检测系统测量目标的光学反射率R的方法,该检测系统包括彼此间隔开的光发射器和光检测器。该方法包括用光发射器照射目标,使用光检测器检测从目标反射的光,其中光检测器提供指示检测到的光的强度的电输出信号SS,以及根据下式确定目标的光学反射率R:#imgabs0#其中RR是参考标准的光谱反射率,SR是在参考标准就位的情况下的检测器电输出信号,SH是在光发射器和光检测器前面没有目标的情况下的检测器电输出信号,并且M是校准因子。

    使用具有多个光谱仪的系统进行测量

    公开(公告)号:CN113039415A

    公开(公告)日:2021-06-25

    申请号:CN201980075161.8

    申请日:2019-11-13

    Abstract: 一种示例系统包括第一光谱仪、第二光谱仪以及可通信地耦合到第一光谱仪和第二光谱仪的电子控制设备。第一光谱仪可操作以使用第一光源朝着第一光谱仪和第二光谱仪之间的样本区域发射第一光。第一光谱仪还可操作以使用第一光电检测器测量从样本区域中的对象反射的第一反射光。第二光谱仪可操作以使用第二光电检测器测量透射通过对象的第一透射光。电子控制设备可操作以基于测量的第一反射光或测量的第一透射光中的至少一个来确定与对象对应的光的光谱分布。

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