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公开(公告)号：CN112470109A
公开(公告)日：2021-03-09
申请号：CN201980049591.2
申请日：2019-03-22
Applicant: 阿尔卑斯阿尔派株式会社
Inventor： 山田朋辉
IPC: G06F3/041 , G06F3/044 , H03K17/945 , H03K17/955 , H03K17/96
Abstract: 传感器装置具有：传感器部，输出具有与检测对象的物理量相应的振幅的正弦波的检测信号；参照信号生成部，生成具有与检测信号相等的频率且具有与检测信号相等的相位的正弦波的第1参照信号；和解调部，将第1参照信号与从传感器部输出的检测信号相乘，生成与该相乘结果的信号所包括的直流分量相应的信号，作为与检测对象的物理量相应的第1解调信号。参照信号生成部生成具有与检测信号相等的频率且相位相对于检测信号偏离了的正弦波的第2参照信号。解调部将第2参照信号与从传感器部输出的检测信号相乘，并生成与该相乘结果的信号所包括的直流分量相应的信号，作为与重叠于检测信号的噪声分量相应的第2解调信号。
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公开(公告)号：CN112352212B
公开(公告)日：2024-09-27
申请号：CN201980043303.2
申请日：2019-03-15
Applicant: 阿尔卑斯阿尔派株式会社
Inventor： 山田朋辉
Abstract: 静电电容传感器具有：N个电极组，其配置于检测区域，分别包含1个以上的电极；静电电容检测部，其按每个所述电极检测由物体和所述电极形成的电容器的静电电容；总和算出部，其按每个所述电极组将基于所述静电电容检测部的检测结果按每个所述电极得到的所述静电电容的检测值合计，来对所述N个电极组各自算出所述检测值的总和；判定部，其基于对所述N个电极组算出的N个所述总和来判定所述静电电容检测部的检测结果是否受噪声的影响。
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公开(公告)号：CN112470109B
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN201980049591.2
申请日：2019-03-22
Applicant: 阿尔卑斯阿尔派株式会社
Inventor： 山田朋辉
IPC: G06F3/041 , G06F3/044 , H03K17/945 , H03K17/955 , H03K17/96
Abstract: 传感器装置具有：传感器部，输出具有与检测对象的物理量相应的振幅的正弦波的检测信号；参照信号生成部，生成具有与检测信号相等的频率且具有与检测信号相等的相位的正弦波的第1参照信号；和解调部，将第1参照信号与从传感器部输出的检测信号相乘，生成与该相乘结果的信号所包括的直流分量相应的信号，作为与检测对象的物理量相应的第1解调信号。参照信号生成部生成具有与检测信号相等的频率且相位相对于检测信号偏离了的正弦波的第2参照信号。解调部将第2参照信号与从传感器部输出的检测信号相乘，并生成与该相乘结果的信号所包括的直流分量相应的信号，作为与重叠于检测信号的噪声分量相应的第2解调信号。
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公开(公告)号：CN111684397B
公开(公告)日：2023-08-04
申请号：CN201880088658.9
申请日：2018-11-29
Applicant: 阿尔卑斯阿尔派株式会社
Inventor： 山田朋辉
IPC: G06F3/041 , G06F3/02 , G06F3/044 , H03K17/955
Abstract: 输入装置具有：检测部，反复性地生成与物体的接近程度相应的检测信号；漂移模拟部，生成漂移模拟信号，该产生漂移模拟信号对由在检测部中反复性地生成检测信号而引起的检测信号的漂移具有相关性的变动；以及校正部，在开始检测部中的检测信号的反复的生成的情况、以及在检测部中的检测信号的反复的生成的间隔被变更的情况的至少一种情况下，根据漂移模拟信号(P)的变动校正检测信号。
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公开(公告)号：CN112352212A
公开(公告)日：2021-02-09
申请号：CN201980043303.2
申请日：2019-03-15
Applicant: 阿尔卑斯阿尔派株式会社
Inventor： 山田朋辉
Abstract: 静电电容传感器具有：N个电极组，其配置于检测区域，分别包含1个以上的电极；静电电容检测部，其按每个所述电极检测由物体和所述电极形成的电容器的静电电容；总和算出部，其按每个所述电极组将基于所述静电电容检测部的检测结果按每个所述电极得到的所述静电电容的检测值合计，来对所述N个电极组各自算出所述检测值的总和；判定部，其基于对所述N个电极组算出的N个所述总和来判定所述静电电容检测部的检测结果是否受噪声的影响。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110300947A
公开(公告)日：2019-10-01
申请号：CN201780086686.2
申请日：2017-12-28
Applicant: 阿尔卑斯阿尔派株式会社
Inventor： 山田朋辉
IPC: G06F3/041 , G06F3/044 , H03K17/955
Abstract: 在对物体能够接近的区域进行划分而得到的多个划区(A)中，3个以上的检测电极(E)交叉。各检测电极(E)中包含经由布线(W)级联的多个部分电极(B)，在划区(A)中交叉的检测电极(E)所包含的部分电极(B)被配置于该划区(A)。配置于划区(A)的3个以上的部分电极(B)包括一个第1部分电极和至少两个第2部分电极。第1部分电极经由第1层布线或者第2层布线与一方的部分电极(B)级联，并且，经由第2层布线与另一方的部分电极(B)级联。第2部分电极经由第1层布线与一方的部分电极(B)级联，并且，经由第2层布线与另一方的部分电极级联。
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公开(公告)号：CN119234287A
公开(公告)日：2024-12-31
申请号：CN202380044759.7
申请日：2023-03-01
Applicant: 阿尔卑斯阿尔派株式会社
Abstract: 提供一种抑制发光二极管的发光状态对静电传感器的检测电容的影响的输入装置。输入装置包含：发光二极管；开关元件，与所述发光二极管串联连接，对所述发光二极管的导通/截止进行切换；静电传感器，具有与所述发光二极管和所述开关元件之间的电路部分电容耦合的检测电极；和电容器，具有与所述电路部分连接的第1端子、和与固定电位点连接的第2端子。
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公开(公告)号：CN118974690A
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202380034311.7
申请日：2023-02-28
Applicant: 阿尔卑斯阿尔派株式会社
Inventor： 山田朋辉
Abstract: 提供一种能够抑制由静电容值的温度、湿度等环境变化引起的漂移的影响的静电容检测装置。静电容检测装置包括：传感器电极；屏蔽电极，其与所述传感器电极接近地配置；第一电压输出部，其向所述传感器电极输出第一交流电压；第二电压输出部，其向所述屏蔽电极施加具有与所述第一交流电压相同的频率以及相位和比所述第一交流电压大的振幅的第二交流电压；检测部，其检测所述传感器电极的自电容值；调整电极，其与所述传感器电极接近地配置；以及电压设定部，将具有与所述第一交流电压相同的频率、与所述第一交流电压相同的相位以及比所述第一交流电压的振幅小的振幅的第三交流电压输出至所述调整电极，或者将具有与所述第一交流电压相同的频率、与所述第一交流电压相反的相位的第三交流电压输出至所述调整电极，或者，将所述调整电极设定为固定电位。
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公开(公告)号：CN114503065B
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202080070966.6
申请日：2020-10-07
Applicant: 阿尔卑斯阿尔派株式会社
Inventor： 山田朋辉
Abstract: 提供可根据S/N比来设定滤波器的强度的静电电容式传感器、静电电容检测方法及静电电容检测程序。静电电容式传感器具有：具有检测电极的传感器部；检测所述传感器部的检测电极的静电电容值的静电电容检测部；计算所述静电电容值与基准值的差分值的差分值计算部；使用滤波器参数对所述差分值实施时间方向的滤波器处理来计算滤波器计算值的滤波器计算部；以及基于由所述滤波器计算部算出的滤波器计算值来判定所述传感器部周边的状态的判定部，该静电电容式传感器的特征在于，具备基于由所述差分值计算部算出的差分值来计算所述滤波器参数的滤波器参数计算部。
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公开(公告)号：CN118020050A
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202280064388.4
申请日：2022-10-14
Applicant: 阿尔卑斯阿尔派株式会社
Inventor： 山田朋辉
IPC: G06F3/041
Abstract: 提供能对应于接触或接近的程度来修正操作面内的物体的二维坐标的位置检测装置、输入装置以及位置检测方法。位置检测装置包含：检测部，其在操作面的多个检测位置检测物体对所述操作面的接触或接近的程度，输出表征所述多个检测位置处的所述程度的多个检测数据；坐标算出部，其基于由所述检测部检测到的多个检测数据，来算出具有与所述操作面平行的平面中所含的第1轴以及第2轴、和第3轴的空间坐标系中的所述物体的空间坐标；和坐标修正部，其基于由所述坐标算出部算出的空间坐标中的所述第3轴的坐标值，来修正所述空间坐标中的所述第1轴的坐标值或所述第2轴的坐标值。
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