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公开(公告)号：CN1680818A
公开(公告)日：2005-10-12
申请号：CN200510063872.3
申请日：2005-04-07
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
Inventor： 藤由达巳
CPC classification number: G06K9/0002
Abstract: 本发明可削减集成电路内部的芯片面积，即电容(反馈电容器)形成部分的面积，解决了制造成本的上升以及检测电压的增益调节的问题。本发明的电容检测电路中，相对多个列配线对置地形成行配线，检测出列配线和行配线交叉部分的电容变化，将该电容变化转换为电信号，该电容检测电路具有：驱动上述列配线的列配线驱动装置；比较器，连接在上述行配线上，将与被驱动的列配线的交叉部分的电容中产生的电荷转换为测量电压，将该测定电压与设定值比较以输出充放电信号；对应于上述充放电信号进行电荷的充放电的恒流源；以及通过上述充放电的电流积累电荷的电容器，其中上述电容器的两端的电压作为电信号输出。
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公开(公告)号：CN102105851B
公开(公告)日：2013-07-31
申请号：CN200980129411.8
申请日：2009-07-21
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
IPC: G06F3/044
CPC classification number: G06F3/044
Abstract: 本发明提供一种对使用环境的限制少，也不会因振动对设备造成影响，而且具有不需要持有特定的输入装置的简单的构成的静电电容式运动检测装置以及利用其的输入装置。在本发明的静电电容式检测装置中，在进行X轴方向的运动检测的情况下，通过切换电路(214)使驱动电极(12a，12d)的极性均为正(D+)，使检测电极(12b)的极性为正(S+)，并使检测电极(12c)的极性为负(S-)。在这样的运动检测电路中，用驱动电路(211)使驱动电极(12a、12d)驱动，并能够根据此时由检测电路A、B(212，213)检测出的静电电容的差分来求得被检测体的X轴方向的位置。
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公开(公告)号：CN100367039C
公开(公告)日：2008-02-06
申请号：CN200510063872.3
申请日：2005-04-07
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
Inventor： 藤由达巳
CPC classification number: G06K9/0002
Abstract: 本发明可削减集成电路内部的芯片面积，即电容(反馈电容器)形成部分的面积，解决了制造成本的上升以及检测电压的增益调节的问题。本发明的电容检测电路中，相对多个列配线对置地形成行配线，检测出列配线和行配线交叉部分的电容变化，将该电容变化转换为电信号，该电容检测电路具有：驱动上述列配线的列配线驱动装置；比较器，连接在上述行配线上，将与被驱动的列配线的交叉部分的电容中产生的电荷转换为测量电压，将该测定电压与设定值比较以输出充放电信号；对应于上述充放电信号进行电荷的充放电的恒流源；以及通过上述充放电的电流积累电荷的电容器，其中上述电容器的两端的电压作为电信号输出。
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