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公开(公告)号：CN105044520A
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：CN201510478527.X
申请日：2015-08-06
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及一种电子设备电磁发射特性的现场测试方法及装置，其中，该方法步骤是：环境场强测试，对设备工作现场的电磁环境进行测试，确定环境常驻信号及有无新增异常信号；辐射发射测试，通过便携式双锥天线，对10kHz至3GHz频率范围内的辐射发射进行测试，通过环境剔除算法，对测试数据进行处理，获得被测设备的实际电磁发射特性；传导发射测试，通过电流卡钳，对25Hz至10MHz频率范围内的传导发射进行测试，以及对25Hz至250MHz频率范围内的线间耦合进行测试；故障诊断测试，依据被测设备的电磁发射特性，分别选用不同精度的近场探头，进一步确定具体部位的电磁发射特性；对现场测试数据的异常频段与其他设备模板进行相关性计算，获得现场测试与故障诊断结果。
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