公开(公告)号：CN100468043C

公开(公告)日：2009-03-11

申请号：CN200510074091.4

申请日：1999-08-03

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 古里纪明 ,  村上淳 ,  岸本健 ,  江川浩司

IPC: G01N21/17 ,  G01N33/50 ,  G01N21/01

CPC classification number: G01N35/00029 ,  G01N1/2813 ,  G01N2035/00128

Abstract: 一种用于具有一正面和一反面的测试片的光学分析组件，其特征在于，正面带有至少一个测试垫，该分析组件包括：一个用于照亮测试片的正面的第一照明装置；一个用于接收测试片正面上的反射光的光接收装置；以及一个用于照亮测试片反面以定位测试垫的第二照明装置；其中光接收装置也用于接收从第二照明装置发射并通过测试片的光。

公开(公告)号：CN1241000C

公开(公告)日：2006-02-08

申请号：CN01818683.1

申请日：2001-11-09

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 和田敦 ,  江川浩司

IPC: G01J1/44 ,  G01N21/00

CPC classification number: G01J1/1626 ,  G01J1/124 ,  G01N21/4738 ,  G01N21/59 ,  G01N2021/5949 ,  G01N2021/5957

Abstract: 一种传感器输出的修正方法，在被测定物(2)的上方，配置通过光照射用LED(4)，成像透镜(6)做媒介的CMOS区传感器(8)。为了感知LED(4)的光量，再配置光检测器(10)。专用计算机(28)对区传感器(8)的输出进行线性化处理和亮度不均匀修正处理。前者对区传感器(8)的输出进行修正，使光量发生变化时的区传感器(8)的输出与光检测器(10)的输出成正比；后者修正各像素的输出，使测量作为被测定物(2)的面内均匀的平板时的区传感器(8)的各像素的输出，经过线性化处理修正后，成为面内均匀的状态。可以实现不需要机械驱动的简便的二维反射率测量方法。

公开(公告)号：CN1474937A

公开(公告)日：2004-02-11

申请号：CN01818683.1

申请日：2001-11-09

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 和田敦 ,  江川浩司

IPC: G01J1/44 ,  G01N21/00

CPC classification number: G01J1/1626 ,  G01J1/124 ,  G01N21/4738 ,  G01N21/59 ,  G01N2021/5949 ,  G01N2021/5957

Abstract: 一种传感器输出的修正方法，在被测定物(2)的上方，配置通过光照射用LED(4)，成像透镜(6)做媒介的CMOS区传感器(8)。为了感知LED(4)的光量，再配置光检测器(10)。专用计算机(28)对区传感器(8)的输出进行线性化处理和亮度不均匀修正处理。前者对区传感器(8)的输出进行修正，使光量发生变化时的区传感器(8)的输出与光检测器(10)的输出成正比；后者修正各像素的输出，使测量作为被测定物(2)的面内均匀的平板时的区传感器(8)的各像素的输出，经过线性化处理修正后，成为面内均匀的状态。可以实现不需要机械驱动的简便的二维反射率测量方法。