一种设备局部放电的监测方法、装置、计算机设备

    公开(公告)号:CN117872055A

    公开(公告)日:2024-04-12

    申请号:CN202311835123.2

    申请日:2023-12-27

    Abstract: 本申请涉及一种设备局部放电的监测方法、装置、计算机设备。所述方法包括:获取预设时间段内局部放电传感器采集得到的放电数据,将所述放电数据传输至数据处理模块,得到所述放电数据的频域特征,其中,所述局部放电传感器至少包括地电波传感器、超声传感器;获取所述上位机中存储的异常数据特征,基于所述异常数据特征、所述频域特征确定所述放电数据中是否存在异常数据,其中,所述异常数据为任一局部放电传感器输出的数据;在确定存在所述异常数据后,生成包含有异常数据的预警消息,并上传至上位机。采用本方法能够实现了配电设备局部放电的故障实时监测预警,为配电设备安全运行提供了保障。

    配电网路径规划方法、装置、计算机设备和存储介质

    公开(公告)号:CN117829388A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202311809098.0

    申请日:2023-12-26

    Abstract: 本申请涉及一种配电网路径规划方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:获取目标配电区域的目标网格式模板,所述目标网格式模板包括各网格单元分别对应的空间特征信息、约束特征信息和电气特征信息,所述约束条件信息用于表征路径可行性的限制条件;基于所述空间特征信息和所述约束特征信息,获取与所述目标配电区域中的待接入电源点和待接入负荷点匹配的多组候选路径;基于所述空间特征信息和所述电气特征信息,从所述多组候选路径中确定目标路径。采用本方法能够提高路径规划效率。

    电网设备生命周期故障概率评估方法、装置和计算机设备

    公开(公告)号:CN117436603A

    公开(公告)日:2024-01-23

    申请号:CN202311326769.8

    申请日:2023-10-12

    Abstract: 本申请涉及一种电网设备生命周期故障概率评估方法、装置和计算机设备。所述方法包括:根据每类型电网设备的历史检修安排情况以及检修后状态评价数据,获取每类型电网设备的每次检修类型安排对应的寿命回退数据,并根据该寿命回退数据对每类型电网设备的初始故障预测数据进行修正,并对修正后故障预测数据进行设备可靠度评分,根据该可靠度随时间分布数据以及电网设备平均寿命,评估每类型电网设备的生命周期故障概率。采用本方法能够使得电网设备的故障概率评估方法与每类型电网设备的实际情况进行良好的结合,准确评估电网设备生命周期故障概率。有助于合理安排电网设备的维护和检修时间,提高电网设备的可靠性和稳定性。

    异常检测方法、装置、计算机设备和存储介质

    公开(公告)号:CN113904811B

    公开(公告)日:2023-11-24

    申请号:CN202111085937.X

    申请日:2021-09-16

    Abstract: 本申请涉及一种异常检测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:获取南向设备发送的通信报文的有效载荷信息和标志位信息;根据有效载荷信息和标志位信息,确定通信报文的网络协议类型;根据网络协议类型和标准网络协议类型,确定网络协议类型是否异常;网络协议类型是否异常表示与南向设备通信的北向主站是否存在入侵行为。采用本方法能够及时快速的判断网络协议类型是否出现异常,从而判断是否存在入侵行为,保障了通信过程中数据传输的安全。

    一种电力专用传感器电磁可靠性评价方法、装置及存储介质

    公开(公告)号:CN117092432A

    公开(公告)日:2023-11-21

    申请号:CN202311075569.X

    申请日:2023-08-24

    Abstract: 本发明提供一种电力专用传感器电磁可靠性评价方法,其包括步骤:进行系统分析;确定电力传感器电磁可靠性的性能参数,进行统计分析,构造状态特征矩阵;利用子空间分析方法建立状态特征矩阵对应的子空间;构造正常状态子空间和当前状态子空间,通过数值分析方法计算两者的主夹角;根据所述两个子空间的主夹角,确定电力专用传感器电磁的可靠度指标。本发明还提供了相应的装置和存储介质。实施本发明,通过计算可靠度指标,可以定量反映电力传感器的电磁可靠性,获得的可靠性的评估指标准确性高,为小样本条件下电力传感器运行可靠性评估提供了有效手段,具有工程应用价值。

    一种配电室10kV开关柜局部放电检测方法及系统

    公开(公告)号:CN116953442A

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN202310837397.9

    申请日:2023-07-07

    Abstract: 本发明提供一种配电室10kV开关柜局部放电检测方法,包括接收两个及以上特高频传感器在各自对应部署的10kV开关柜上所采集到的局部放电信号,以及接收工频信号识别器在对应部署的开关柜二次室内所采集到的工频信号;基于工频信号,对所接收到的每一个局部放电信号均进行抗干扰处理;根据抗干扰处理后的每一个局部放电信号,分别构建出对应的PRPD图谱;在所构建的所有PRPD图谱中,选出符合预定条件的PRPD图谱,并结合已训练好的局部放电类型识别模型,分别确定出形成有相应一个所选PRPD图谱的10kV开关柜及其所产生的局部放电信号的类型。实施本发明,能够解决现有局部放电信号易受干扰损失的问题,提高检测精度。

    半导体器件测温系统、传感器探头的制备方法和封装方法

    公开(公告)号:CN116539188A

    公开(公告)日:2023-08-04

    申请号:CN202310468400.4

    申请日:2023-04-25

    Abstract: 本发明涉及一种半导体器件测温系统、传感器探头的制备方法和封装方法。该系统用于检测半导体器件的温度,包括:光源,用于发出光线;光谱仪,用于接收光谱信号;检测光纤,检测光纤的第一端设有反射镜;检测光纤至少部分熔接有传感器探头,传感器探头用于贴合半导体器件;以及萨格纳克环,通过输入光纤与光源连接,通过输出光纤与光谱仪连接;萨格纳克环还连接检测光纤的第二端;使得光源发出的光经过萨格纳克环后传输至检测光纤,经反射镜反射后经过萨格纳克环得到光谱信号。半导体器件的温度变化对光纤中的光线产生扰动,经过萨格纳克环干涉的条纹发生移动,从而确定半导体器件的温度。

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