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公开(公告)号：CN1386199A
公开(公告)日：2002-12-18
申请号：CN01801947.1
申请日：2001-07-05
Applicant: 日本航空电子工业株式会社 , 株式会社东芝
IPC: G01R15/24
CPC classification number: G01R15/246 , G01R15/247
Abstract: 消偏振镜11插入在光分支单元2与偏振滤光器3之间;消偏振镜12和偏振滤光器14插入在光相位调制器5与四分一波片16之间,以及消偏振镜13和偏振滤光器15插入在光分支单元4的另一分支端与四分一波片17之间。光分支元件2和光相位调制器5是由单模光纤形成的,并且单模光纤用于光学器件之间的连接,由此提供总体上廉价的装置。
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公开(公告)号：CN1369945A
公开(公告)日：2002-09-18
申请号：CN02104587.9
申请日：2002-02-09
Applicant: 株式会社东芝
Inventor： 浜松浩一 , 伊藤德男 , 伊藤八大 , 鲛田芳富 , 才田敏之 , 须贺纪善 , 长崎宽美 , 南裕二 , 中嶋高 , 丸山志郎 , 齐藤实 , 田中立二 , 高桥正雄 , 田村节生 , 小坂田昌幸
IPC: H02J13/00
Abstract: 一种变电站主电路部件的保护和控制系统,这种系统包括:数字数据输出装置,用于输入模拟交流电值并输出数字数据;保护和控制装置,用于输入来自数字数据输出装置的数据,并用于控制、监视和保护电站主电路部件;部件控制和监视装置,用于接收来自保护和控制装置或变电站控制和监视装置的指令,并用于控制和监视变电站主电路部件;以及通信装置。数字数据输出装置、保护和控制装置及部件控制和监视装置,是被制作在其对应的变电站主电路部件之内。
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公开(公告)号：CN102000398B
公开(公告)日：2014-05-07
申请号：CN201010271493.4
申请日：2010-09-02
Applicant: 株式会社东芝
IPC: A61N5/10
CPC classification number: A61N5/1048 , A61N5/1043 , A61N2005/1056 , A61N2005/1087
Abstract: 根据本发明的粒子束辐射装置包括：束生成单元；束发射控制单元，其控制粒子束发射；束扫描指示单元，对于通过在粒子束轴线方向上划分将要辐射的患病区域所获得的切片中的每个，束扫描指示单元连续二维指示粒子束位置；束扫描单元，其基于来自束扫描指示单元的指示信号二维扫描粒子束；荧光体膜，其提供在束扫描单元和患者之间，并且以对应于透射经过其的粒子束的粒子剂量的量来发光；成像单元，其对于切片中的每个，对荧光体膜成像；以及显示单元，其从由成像单元所成像的图像数据中获得切片中的每个的辐射剂量分布，并且显示所获得的与粒子束扫描位置相关的辐射剂量分布。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102135554A
公开(公告)日：2011-07-27
申请号：CN201010625046.4
申请日：2010-12-10
Applicant: 株式会社东芝
IPC: G01R15/24
CPC classification number: G01R15/246 , G01D5/35322 , G01R19/0092
Abstract: 在一个实施例中，一种萨格纳克干涉仪型光纤传感器包括同步检测电路，以用于利用相位调制器的相位调制角频率来执行检测到的光信号的同步检测。信号处理电路利用在所述同步检测电路中检测到的信号计算且输出待测电流的大小。相位调制器驱动电路控制相位调制器的驱动。相位调制器驱动电路控制相位调制器的相位调制深度，以便使通过利用相位调制角频率执行检测到的光信号的同步检测而获得的二次谐波和四次谐波的幅值变得相等。
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公开(公告)号：CN102000398A
公开(公告)日：2011-04-06
申请号：CN201010271493.4
申请日：2010-09-02
Applicant: 株式会社东芝
IPC: A61N5/10
CPC classification number: A61N5/1048 , A61N5/1043 , A61N2005/1056 , A61N2005/1087
Abstract: 根据本发明的粒子束辐射装置包括：束生成单元；束发射控制单元，其控制粒子束发射；束扫描指示单元，对于通过在粒子束轴线方向上划分将要辐射的患病区域所获得的切片中的每个，束扫描指示单元连续二维指示粒子束位置；束扫描单元，其基于来自束扫描指示单元的指示信号二维扫描粒子束；荧光体膜，其提供在束扫描单元和患者之间，并且以对应于透射经过其的粒子束的粒子剂量的量来发光；成像单元，其对于切片中的每个，对荧光体膜成像；以及显示单元，其从由成像单元所成像的图像数据中获得切片中的每个的辐射剂量分布，并且显示所获得的与粒子束扫描位置相关的辐射剂量分布。
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公开(公告)号：CN105137147B
公开(公告)日：2018-05-15
申请号：CN201510197841.0
申请日：2015-04-23
Applicant: 株式会社东芝
Inventor： 高桥正雄
IPC: G01R19/00
CPC classification number: G01R15/242 , G01R19/32
Abstract: 本发明提供一种能进行高精度的光学电压测量且具有高可靠性的光学电压测量装置。光学电压测量装置(10)至少具备：光源(11)；光分路器(12)；偏振器(13)；相位调制器(14)；传输光纤(2)；法拉第旋转器(32)，使光纤的出射光的偏振波进行旋转；电光元件(31)，对旋转后的光给予由泡克尔斯效应产生的折射率变化；反射镜(33)；以及检测器(41)。在电光元件的灵敏度的温度系数为正的情况下，在使用温度范围内的最低温度下决定法拉第旋转器的对电光元件的入射偏振光方位，以使该入射偏振光方位与泡克尔斯效应表现出的双折射的轴成为同一轴。在电光元件的灵敏度的温度系数为负的情况下，在使用温度范围内的最高温度下，进行同样的操作。
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公开(公告)号：CN101672868A
公开(公告)日：2010-03-17
申请号：CN200910174389.0
申请日：2009-09-11
Applicant: 株式会社东芝
CPC classification number: G01R15/241 , H02B13/0356
Abstract: 提供了一种光学电压测量设备，其包括主电路导体(1)，绝缘地支撑主电路导体(1)并固定到接地构件(3)的电介质体(4)，掩埋在电介质体(4)中的掩埋电极(6)，以及连接到掩埋电极(6)并测量主电路导体(1)的电压的电光元件(20)，其中，将由主电路导体(1)和掩埋电极(6)之间生成的静电电容与掩埋电极(6)和接地构件(3)之间生成的静电电容之间的静电电容比所分的电压施加到电光元件(20)。
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公开(公告)号：CN1228899C
公开(公告)日：2005-11-23
申请号：CN02104587.9
申请日：2002-02-09
Applicant: 株式会社东芝
Inventor： 浜松浩一 , 伊藤德男 , 伊藤八大 , 鲛田芳富 , 才田敏之 , 须贺纪善 , 长崎宽美 , 南裕二 , 中高 , 丸山志郎 , 齐藤实 , 田中立二 , 高桥正雄 , 田村节生 , 小坂田昌幸
IPC: H02J13/00
Abstract: 一种变电站主电路部件的保护和控制系统，这种系统包括：数字数据输出装置，用于输入模拟交流电值并输出数字数据；保护和控制装置，用于输入来自数字数据输出装置的数据，并用于控制、监视和保护电站主电路部件；部件控制和监视装置，用于接收来自保护和控制装置或变电站控制和监视装置的指令，并用于控制和监视变电站主电路部件；以及通信装置。数字数据输出装置、保护和控制装置及部件控制和监视装置，是被制作在其对应的变电站主电路部件之内。
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