公开(公告)号：CN1298286C

公开(公告)日：2007-02-07

申请号：CN02147979.8

申请日：2002-10-31

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 中西知 ,  松田圭史 ,  信藤康孝 ,  奥村美和

IPC: A61B6/03

CPC classification number: A61B6/587 ,  A61B6/032 ,  A61B6/4085 ,  A61B6/542 ,  A61B6/56

Abstract: 提供对准信息的计算机X射线断层造影设备包括X射线发生器、X射线检测器和控制器。X射线发生器产生X射线。X射线检测器包含沿切片方向的多个检测段，检测由X射线发生器产生的X射线。控制器根据从至少两个检测段获得的检测信息，提供切片方向上X射线发生器和X射线检测器之间的对准信息，其中所述至少两个检测段的每一个都至少被X射线的半影部分覆盖。

公开(公告)号：CN1415274A

公开(公告)日：2003-05-07

申请号：CN02147979.8

申请日：2002-10-31

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 中西知 ,  松田圭史 ,  信藤康孝 ,  奥村美和

IPC: A61B6/03

CPC classification number: A61B6/587 ,  A61B6/032 ,  A61B6/4085 ,  A61B6/542 ,  A61B6/56

Abstract: 提供对准信息的计算机X射线断层造影设备包括X射线发生器、X射线检测器和控制器。X射线发生器产生X射线。X射线检测器包含沿切片方向的多个检测段，检测由X射线发生器产生的X射线。控制器根据从至少两个检测段获得的检测信息，提供切片方向上X射线发生器和X射线检测器之间的对准信息，其中所述至少两个检测段的每一个都至少被X射线的半影部分覆盖。