公开(公告)号：CN114450584A

公开(公告)日：2022-05-06

申请号：CN202080067538.8

申请日：2020-09-02

Applicant: 芝浦机械株式会社

Inventor： 森松大亮 ,  藤卷晋平

IPC: G01N23/18 ,  G01N23/046 ,  G01N22/02

Abstract: 有关一个实施方式的层叠造形系统具备层叠造形部、测量部和控制部。上述层叠造形部通过形成多个层，将包括该多个层的物体造形。上述测量部测量各个上述层的状态。上述控制部具备存储部和推断部。上述存储部存储基于内部缺陷信息和试样测量信息的参照信息，所述内部缺陷信息基于透射过由上述层叠造形部造形并包括上述多个层的试样物体的电磁波表示存在于该试样物体的内部的缺陷，所述试样测量信息表示由上述测量部测量的上述试样物体的上述多个层的测量结果。上述推断部基于表示由上述测量部测量的上述物体的上述多个层的测量结果的测量信息和上述参照信息，推断在上述物体的内部是否发生缺陷。

公开(公告)号：CN114450584B

公开(公告)日：2024-07-30

申请号：CN202080067538.8

申请日：2020-09-02

Applicant: 芝浦机械株式会社

Inventor： 森松大亮 ,  藤卷晋平

IPC: G01N23/18 ,  G01N23/046 ,  G01N22/02

Abstract: 有关一个实施方式的层叠造形系统具备层叠造形部、测量部和控制部。上述层叠造形部通过形成多个层，将包括该多个层的物体造形。上述测量部测量各个上述层的状态。上述控制部具备存储部和推断部。上述存储部存储基于内部缺陷信息和试样测量信息的参照信息，所述内部缺陷信息基于透射过由上述层叠造形部造形并包括上述多个层的试样物体的电磁波表示存在于该试样物体的内部的缺陷，所述试样测量信息表示由上述测量部测量的上述试样物体的上述多个层的测量结果。上述推断部基于表示由上述测量部测量的上述物体的上述多个层的测量结果的测量信息和上述参照信息，推断在上述物体的内部是否发生缺陷。