一种辐射四阶涡旋波束的微带贴片天线

    公开(公告)号:CN110112548A

    公开(公告)日:2019-08-09

    申请号:CN201910412622.8

    申请日:2019-05-17

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 一种辐射四阶涡旋波束的微带贴片天线,涉及微带贴片天线。设有介质基板,在介质基板的上表面设有辐射圆环、矩形微带环、渐变微带馈线;介质基板的下表面为铜导体层,铜导体层为接地板;所述辐射圆环与矩形微带环相连接,渐变微带馈线与矩形微带环相连接。具有结构简单、易于实现、性能优良等优点,在未来的无线通信技术领域中具有很大的应用潜力,对于将OAM技术应用到无线通信领域中具有推动作用。

    基于开口缝隙的三端口MIMO天线

    公开(公告)号:CN106816704B

    公开(公告)日:2019-07-02

    申请号:CN201710035301.1

    申请日:2017-01-17

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 基于开口缝隙的三端口MIMO天线,涉及多端口馈电的MIMO天线。包括介质基板,所述介质基板设有上层和下层2个圆形介质基板,2个圆形介质基板之间通过3根同轴线相连,3根同轴线互成120°角对称分布,同轴线的外导体将下层介质基板的下表面金属层和上层介质基板的下表面三个扇形金属层相连,同轴线的内导体与上层介质基板的上表面的金属条状层连接;下层介质基板的下表面涂覆有金属层;上层介质基板的下表面涂覆有金属层,该金属层由3条长条形缝隙等分为三个扇形区域,每个扇形区域沿弧边的边缘向内延伸开有一个矩形缝隙,上层介质基板的上表面涂覆有3个回旋镖形条状金属层,3个回旋镖形条状金属层互成120°角对称分布。

    互补开口环与环型缝隙立体腔阵列调控北斗双频微带天线

    公开(公告)号:CN104821432B

    公开(公告)日:2017-06-27

    申请号:CN201510249503.7

    申请日:2015-05-15

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 互补开口环与环型缝隙立体腔阵列调控北斗双频微带天线,涉及一种微带天线。设有上下介质基板,上下介质基板的上表面均敷有良导体层,下介质基板下表面叠放有良导体接地层;上介质基板上表面设有开槽和切角的正方形贴片,下介质基板上表面设有开槽、切角和过孔的正方形贴片,所述切角是在相对于上层正方形贴片切角的另外一组对角,且采用内切三角形控频结构;过孔在正方形贴片的中间;下介质基板下表面叠加有一层正方形良导体层作为接地板,且采用两个同轴结构实现高隔离度的双频馈电。具有高度集成化、结构简单、双频工作、带宽大、辐射特征好、受环境因素影响小、成本低、易集成等优点,可达到北斗卫星与GPS导航等卫星通信系统对天线的要求。

    一种具有双陷波结构的UWB‑MIMO天线

    公开(公告)号:CN106816705A

    公开(公告)日:2017-06-09

    申请号:CN201710035327.6

    申请日:2017-01-17

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 一种具有双陷波结构的UWB‑MIMO天线。包括微波介质基板,微波介质基板上下表面均设金属贴片;上表面金属贴片构成相同结构的2个超宽带天线单元,超宽带天线单元相互垂直且对称设置;超宽带天线单元上部为作为天线辐射单元的等腰梯形结构贴片与半圆形结构贴片组合,超宽带天线单元下部为作为天线馈线的矩形结构贴片,天线辐射单元与天线馈线连为一体,馈线两侧对称设发卡型结构贴片和网状型结构贴片,网状型贴片中心与介质基板下表面的金属贴片连接,天线地板由2个矩形金属贴片垂直相连构成,相连矩形金属地板的夹角处切去矩形块,在生成的夹角处开一对L型细槽,在与辐射单元和天线馈线相连处正对的天线地板位置处开矩形槽。

    一种双馈双极化微带天线
    15.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104201467A

    公开(公告)日:2014-12-10

    申请号:CN201410462518.7

    申请日:2014-09-12

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 一种双馈双极化微带天线,涉及一种贴片天线。设有介质基板和辐射贴片;辐射贴片设于介质基板正面,辐射贴片的几何中心与介质基板1的几何中心重合,介质基板的背面接地。辐射贴片呈齿轮状,辐射贴片设有中心圆片、4片相同的同心圆弧片、4片相同的辐条片及4个齿;以中心圆片为基准,4片同心圆弧片和4片辐条片对称设于中心圆片的外围,每片同心圆弧片通过1片辐条片与中心圆片接;4个齿均布正交位于辐射贴片的上下左右四个端部,且设于各同心圆弧片两端,4个齿中有相邻的2个齿为相同的U字形齿,相邻的另2个齿为相同的断开式齿,断开式齿是U字形齿设有径向中间断开口,径向中间断开口作为馈电端口。隔离度较高,具有良好的双极化特性。

    宽带双向微带天线
    16.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102938501B

    公开(公告)日:2014-09-03

    申请号:CN201210528788.4

    申请日:2012-12-10

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 宽带双向微带天线,涉及一种微带天线。设有双面敷铜介质基板,在基板正面上印制有带两个相对中心位置反对称L形槽的平行四边形结构振子;基板反面上全部敷铜。在正面上,平行四边形的上下边分别与基板的上下边平行,且平行四边形居中放置在基板上。两个L形槽相对于中心点反方向对称放置并分别刻蚀至平行四边形的上下两边,L形槽的其中一臂与平行四边形的上下边垂直,另外一个臂与平行四边形的上下边平行。反面全部敷铜作为接地面。从正面平行四边形的中心位置钻一个通孔至反面,用一个50Ω的同轴线接头通过通孔从反面对平行四边形振子进行馈电。具有双向特性、宽频带、低剖面、增益高、辐射效率高、结构简单。

    开槽印制单极超宽带天线
    17.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101777691B

    公开(公告)日:2013-06-19

    申请号:CN201010116023.0

    申请日:2010-02-23

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 开槽印制单极超宽带天线,涉及一种超宽带天线。提供一种尺寸小、带宽大、回波损耗较低、结构简单且具有全向辐射特性的开槽印制单极超宽带天线。设介质基板,在介质基板上印制有矩形和梯形结构阵子体,梯形的下底居中放置在矩形上,所述阵子体上设有开槽,阵子体倒立放置于介质基板的顶端,阵子体的下边缘接微带线,微带线接辐射元,微带线延伸至介质基板的边缘;介质基板的背面下端设有接地面,接地面与介质基板正面的阵子体之间设有间隙。

    一种光子带隙双折叠偶极子双频带天线

    公开(公告)号:CN101304115B

    公开(公告)日:2012-01-04

    申请号:CN200810071309.4

    申请日:2008-06-27

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 一种光子带隙双折叠偶极子双频带天线,涉及一种微带天线。提供一种尺寸小、带宽大、回波损耗较低且具有全向辐射特性的兼容射频识别系统和3G系统移动终端的光子带隙双折叠偶极子双频带天线。设有单面覆铜的介质基板,覆铜区域设有左折叠偶极子辐射贴片、右折叠偶极子辐射贴片以及与左折叠偶极子辐射贴片和右折叠偶极子辐射贴片连接的连接贴片,左折叠偶极子辐射贴片、右折叠偶极子辐射贴片的结构相同;左折叠偶极子辐射贴片位于介质基板左侧,右折叠偶极子辐射贴片位于介质基板右侧,连接贴片位于左折叠偶极子辐射贴片与右折叠偶极子辐射贴片之间。

    一种单层光学薄膜光学常数和厚度的检测方法

    公开(公告)号:CN101363768B

    公开(公告)日:2010-06-09

    申请号:CN200810071894.8

    申请日:2008-09-28

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 一种单层光学薄膜光学常数和厚度的检测方法,涉及一种光学薄膜参数的检测方法。提供仅通过一次计算,即可快速检测的一种单层光学薄膜光学常数和厚度的检测方法。测量透射光谱:利用分光光度计,测量正入射情况下单层光学薄膜的不扣除基底的透射光谱;选取透射率数据:在测量透射光谱上选取透射率数据代入评价函数;反演求解:采用改进模拟退火算法对评价函数进行反演求解;分析结果:通过恢复透射光谱,对算法返回结果进行分析。算法全局性能更优,返回解数量级更小,且回火退火帮助返回多组解,全面了解评价函数情况;可与分光光度计测量软件相结合,直接读取透射率数据进行反演求解,拓宽分光光度计的应用范围,具有潜在商业价值。

    一种单层光学薄膜光学常数和厚度的检测方法

    公开(公告)号:CN101363768A

    公开(公告)日:2009-02-11

    申请号:CN200810071894.8

    申请日:2008-09-28

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 一种单层光学薄膜光学常数和厚度的检测方法,涉及一种光学薄膜参数的检测方法。提供仅通过一次计算,即可快速检测的一种单层光学薄膜光学常数和厚度的检测方法。测量透射光谱:利用分光光度计,测量正入射情况下单层光学薄膜的不扣除基底的透射光谱;选取透射率数据:在测量透射光谱上选取透射率数据代入评价函数;反演求解:采用改进模拟退火算法对评价函数进行反演求解;分析结果:通过恢复透射光谱,对算法返回结果进行分析。算法全局性能更优,返回解数量级更小,且回火退火帮助返回多组解,全面了解评价函数情况;可与分光光度计测量软件相结合,直接读取透射率数据进行反演求解,拓宽分光光度计的应用范围,具有潜在商业价值。

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