-
公开(公告)号：CN110044280B
公开(公告)日：2021-01-19
申请号：CN201910328641.2
申请日：2019-04-23
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明属于激光测厚领域，并公开了一种侧焦线法激光三角测厚仪及方法，其包括发射单元和接收单元，发射单元包括第一和第二发射组件，两者位于待测对象旁侧的上下方，且关于待测对象的中心平面对称，第一发射组件用于形成光线平面Ⅰ，该光线平面Ⅰ与待测对象的上表面相交形成第一直线光斑，并在待测对象的上表面发生漫反射，第二发射组件用于形成与光线平面Ⅰ共面的光线平面Ⅱ，该光线平面Ⅱ与待测对象下表面相交形成第二直线光斑并在其下表面发生漫反射；接收单元位于待测对象旁侧，其光轴与光线平面Ⅰ垂直，用于接收待测对象上下表面的漫反射光线，并根据接漫反射光线计算获得待测对象的厚度。本发明具有结构简单、测量精确等优点。
-
公开(公告)号：CN110044280A
公开(公告)日：2019-07-23
申请号：CN201910328641.2
申请日：2019-04-23
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明属于激光测厚领域，并公开了一种侧焦线法激光三角测厚仪及方法，其包括发射单元和接收单元，发射单元包括第一和第二发射组件，两者位于待测对象旁侧的上下方，且关于待测对象的中心平面对称，第一发射组件用于形成光线平面Ⅰ，该光线平面Ⅰ与待测对象的上表面相交形成第一直线光斑，并在待测对象的上表面发生漫反射，第二发射组件用于形成与光线平面Ⅰ共面的光线平面Ⅱ，该光线平面Ⅱ与待测对象下表面相交形成第二直线光斑并在其下表面发生漫反射；接收单元位于待测对象旁侧，其光轴与光线平面Ⅰ垂直，用于接收待测对象上下表面的漫反射光线，并根据接漫反射光线计算获得待测对象的厚度。本发明具有结构简单、测量精确等优点。
-
公开(公告)号：CN109387851A
公开(公告)日：2019-02-26
申请号：CN201811406179.5
申请日：2018-11-23
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于激光测距领域，并公开了一种三角测距点焦成像中利用分波面移像抑制散斑效应的装置，该装置包括发射单元和接收单元，其中：发射单元中聚焦透镜组置于激光器和被测目标之间，用于将激光器产生的激光聚焦形成点焦斑，照射到所述被测目标表面；接收单元中二维玻璃片阵列和接收透镜组置于光电图像探测器与被测目标之间，被测目标发出的散射光被二维玻璃片阵列分波面移像，形成多个点焦斑像并被所述光电图像探测器接收。本发明通过设置二维玻璃片阵列能够将散射光分波面移像形成多个点焦斑的像，利用平均的方法有效降低了激光三角测距中测量的不确定度，并且不会牺牲测量装置的横向分辨率，具有更广的应用场景。
-
公开(公告)号：CN103175478B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201310073337.0
申请日：2013-03-08
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明公开了一种基于红外成像的薄膜测厚仪，包括光源、准直透镜、分光棱镜、参考路散射玻璃、参考路红外滤光片、参考路反射镜、测量路散射玻璃、测量路红外滤光片、测量路反射镜、半透半反分光镜、成像透镜、CCD；测量时参考物经反射镜、分光镜和成像透镜成像到CCD光敏面，被测物经反射镜和成像透镜也成像到CCD光敏面，CCD将图像传送至计算机，经图像处理后根据图像的灰度值求得被测物的厚度；如此形成双光路测量系统，避免了光源光强变化的影响；使用散射光透射成像的测量体系，避免了传统红外测厚装置中存在的干涉影响；设置具有多个局部标准厚度的参考物，该装置可以获取参考物各个局部标准厚度，从而能够更加精确地测量薄膜厚度。
-
公开(公告)号：CN105044790A
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：CN201510348935.3
申请日：2015-06-23
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01V3/26
Abstract: 本发明公开了一种基于周向电极扫描的异常体方位判断系统及方法，属于隧道工程地质前探技术领域。本发明包括多个周向电极、恒流驱动电路、电压测量电路、延长线缆和锚杆。将多个周向电极均匀分布在全断面隧道掘进机护盾后方一定距离的隧道壁上，用恒流驱动电路依次向周向电极内通以恒定的电流，并用电压测量电路获取对应的护盾电压。本发明通过分析护盾上电压的大小即能准确的判断异常体的方位，而且结构简单，易于工人操作。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103175478A
公开(公告)日：2013-06-26
申请号：CN201310073337.0
申请日：2013-03-08
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明公开了一种基于红外成像的薄膜测厚仪，包括光源、准直透镜、分光棱镜、参考路散射玻璃、参考路红外滤光片、参考路反射镜、测量路散射玻璃、测量路红外滤光片、测量路反射镜、半透半反分光镜、成像透镜、CCD；测量时参考物经反射镜、分光镜和成像透镜成像到CCD光敏面，被测物经反射镜和成像透镜也成像到CCD光敏面，CCD将图像传送至计算机，经图像处理后根据图像的灰度值求得被测物的厚度；如此形成双光路测量系统，避免了光源光强变化的影响；使用散射光透射成像的测量体系，避免了传统红外测厚装置中存在的干涉影响；设置具有多个局部标准厚度的参考物，该装置可以获取参考物各个局部标准厚度，从而能够更加精确地测量薄膜厚度。
-
公开(公告)号：CN102679892A
公开(公告)日：2012-09-19
申请号：CN201210145987.7
申请日：2012-05-11
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明属于几何尺寸测量技术领域，为一种单镜头激光三角法厚度测量仪，包括激光器、孔径光阑、平面玻璃、组合镜头、图像探测器、图像处理器以及一些辅助精细调节装置。工作时，同轴对准的上下激光器发出两束准直光线，由激光器前端透镜聚焦到被测物表面，被测物表面的漫反射光线经过孔径光阑、平面玻璃后由组合成像透镜汇聚到图像探测器上，再将图像数据传输至图像处理器进行图像处理，进而由两光斑之间的间距计算得出被测物的实际厚度，最后显示测量厚度。本发明秉承激光三角测厚法优点的同时通过改进光路结构，优化设计，较好的消除了双光路激光三角法测厚仪受被测物振动影响上下独立测量系统难以同步，精度难以保证的问题。
-
公开(公告)号：CN102252651A
公开(公告)日：2011-11-23
申请号：CN201110115296.8
申请日：2011-05-05
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01C1/00
Abstract: 本发明公开了一种基于无衍射光的激光电子标靶，从立方角锥棱台透镜的透射出的激光进入分光电路后分成水平方向光束和垂直方向光束，水平方向光束经平面反射镜、分光片反射后入射圆锥透镜形成无衍射光斑O2，图像信息处理系统捕获无衍射光斑O2，通过对无衍射光斑中心坐标的计算，可得到测量对像的水平航角与倾斜角，垂直方向光束通过带阻尼的重力摆上的平面反射镜的反射，投射过分光片入射圆锥透镜形成无衍射光斑O1，图像信息处理系统捕获无衍射光，并根据无衍射光斑O1中心坐标的计算得到测量对像的滚动角。本发明实现了基于无衍射光的全光学空间角度测量，具有空间角度测量精度高，稳定性好，抗环境光干扰能力强，结构紧凑的特点。
-
公开(公告)号：CN1209652C
公开(公告)日：2005-07-06
申请号：CN03128348.9
申请日：2003-07-18
Applicant: 华中科技大学
Inventor： 赵斌
Abstract: 本发明公开了一种远距高倍短筒显微镜，包括准直透镜和目镜，准直透镜和目镜之间依次放置有微透镜列阵型角扩束器和聚焦透镜，显微镜的物平面位于准直透镜的焦平面上。满足以下条件其效果更好：角扩束器靠近但不接触准直透镜，聚焦透镜靠近但不接触角扩束器；角扩束器的孔径大于聚焦透镜的孔径。角扩束器的板面与显微镜的光轴垂直。目镜的前焦面在聚焦透镜的后焦面之前，目镜将聚焦透镜的后焦面上的像成一个位于明视距离处的虚象。由于加上了角扩束器，在系统总长度基本不增大了情况下，使显微镜放大率成倍增大，这样，就可以将一个远距低倍显微镜配一个N倍的微透镜列阵角扩束器，改造成一个远距高倍短筒显微镜。
-
公开(公告)号：CN113777701B
公开(公告)日：2022-05-20
申请号：CN202110991509.7
申请日：2021-08-27
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于光学波片相关技术领域，并公开了一种基于空间螺旋弯曲的旋光纤波片。该波片由一条旋光纤呈空间螺旋盘旋而成，该螺旋盘旋的旋光纤包括三个部分，入射端、中间段和出射端，其中，所述中间段用于形成波片所需的相位延迟。相较于现有的光纤波片，本发明所提出的基于空间螺旋弯曲的旋光纤波片则由于旋光纤其内部呈螺旋结构的高双折射轴而抑制甚至淹没掉外界产生的线性双折射，从而获得确定的输出偏振态。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
83
records
(took 0.036 seconds)
