光电转换元件
    11.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111819700B

    公开(公告)日:2024-04-30

    申请号:CN201980017341.0

    申请日:2019-03-22

    Abstract: 本发明提高光电转换元件(10)的比探测率。一种光电转换元件,其包含:一对电极(12、16);设置于一对电极间的活性层(14);以及设置于活性层与所述一对电极中的至少一个电极之间的中间层(13、15),中间层的与活性层接合的面的表面粗糙度的绝对值为大于0.22nm且小于1.90nm的值,活性层的厚度为350nm以上且800nm以下。

    光检测元件
    12.
    发明公开
    光检测元件 审中-实审

    公开(公告)号:CN115336022A

    公开(公告)日:2022-11-11

    申请号:CN202180024405.7

    申请日:2021-03-22

    Abstract: 本发明的课题在于降低暗电流。解决手段为一种光检测元件(10),其具备阳极(12)、阴极(16)、以及设于该阳极与该阴极之间且包含p型半导体材料和n型半导体材料的有源层(14),从上述n型半导体材料的HOMO的能级的绝对值减去p型半导体材料的HOMO的能级的绝对值而得到的值为0.35以下。此外,上述n型半导体材料的HOMO与p型半导体材料的HOMO之差优选为0~0.10eV,p型半导体材料优选为包含下式(I)所表示的结构单元的高分子化合物。(式(I)中,Ar1和Ar2表示具有或不具有取代基的3价芳香族杂环基或者具有或不具有取代基的3价芳香族碳环基,Z表示下述式(Z‑1)~式(Z‑7)所表示的基团。)

    光检测元件、包含其的传感器和生物体认证装置、以及组合物和油墨

    公开(公告)号:CN115336021A

    公开(公告)日:2022-11-11

    申请号:CN202180024384.9

    申请日:2021-03-22

    Abstract: 本发明的课题在于提供暗电流比小的光检测元件。解决手段为一种光检测元件,其包含第一电极、第二电极、以及设置于上述第一电极与上述第二电极之间的有源层,上述有源层包含p型半导体材料和n型半导体材料,上述p型半导体材料包含具有‑5.45eV以下的HOMO的聚合物,上述n型半导体材料包含非富勒烯化合物。优选上述p型半导体材料中包含的上述聚合物包含具有给电子性的结构单元DU和具有受电子性的结构单元AU,上述非富勒烯化合物包含具有给电子性的部分DP和具有受电子性的部分AP。

    光电转换元件及其制造方法

    公开(公告)号:CN112771685B

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN201980064003.2

    申请日:2019-09-26

    Abstract: 本发明降低暗电流比。光电转换元件(10)包含:阳极(16);阴极(12);设置于该阳极和阴极间的有源层(14);以及设置于有源层和阴极间的至少一层电子传输层(13),电子传输层包含绝缘性材料和半导体材料,电子传输层的功函数与阴极的功函数之差为0.88eV以上。此外,该光电转换元件中,上述有源层包含p型半导体材料和n型半导体材料,上述电子传输层的功函数Wf1和上述n型半导体材料的LUMO的能级(LUMO)满足下述式(2):|LUMO|-Wf1≥0.06eV(2)。

    光检测元件
    16.
    发明公开
    光检测元件 审中-实审

    公开(公告)号:CN115336023A

    公开(公告)日:2022-11-11

    申请号:CN202180024466.3

    申请日:2021-03-22

    Abstract: 本发明的课题在于提高比检测率。解决手段为一种光检测元件(10),其具备阳极(12)、阴极(16)、以及设置于该阳极与该阴极之间且包含p型半导体材料和n型半导体材料的有源层(14),从n型半导体材料的HOMO的能级的绝对值减去上述p型半导体材料的HOMO的能级的绝对值而得到的值(ΔEA)与从上述n型半导体材料的LUMO的能级的绝对值减去上述p型半导体材料的LUMO的能级的绝对值而得到的值(ΔEB)之和的值(ΔEA+ΔEB)为大于0且小于0.88的范围。

    光检测元件
    17.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112514100A

    公开(公告)日:2021-03-16

    申请号:CN201980050374.5

    申请日:2019-07-26

    Abstract: 一种暗电流降低、且外量子效率提高的光检测元件。光检测元件包含:阳极;阴极;和设置于该阳极与该阴极之间且包含p型半导体材料和n型半导体材料的有源层,有源层的厚度为800nm以上,与有源层的阴极侧表面相接的面的功函数减去n型半导体材料的LUMO的绝对值而得到的值为0.0~0.5eV。此外,上述n型半导体材料具有2.0eV~10.0eV的LUMO的绝对值。

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