公开(公告)号：CN106461612B

公开(公告)日：2020-10-16

申请号：CN201580027308.8

申请日：2015-08-31

Applicant: 京瓷株式会社

Inventor： 胜田宏

IPC: G01N29/02

Abstract: 本发明涉及能够由装置本身简单地得到基准相位差以及与其对应的基准电压的传感器装置。传感器装置(100)具备：第1信号产生器(SG1)，产生第1频率的信号(f1)以及第2频率的信号(f2)之中的至少一个；第2信号产生器(SG2)，产生第1频率的信号(f1)以及第2频率的信号(f2)之中的至少一个；以及计算部(140)，能够与第1信号产生器(SG1)以及第2信号产生器(SG2)的每一个连接，计算部(140)根据在将计算部(140)与第1信号产生器(SG1)连接的状态下从第1信号产生器(SG1)产生第1频率的信号(f1)而得到的第1基准信号以及在将计算部(140)与第2信号产生器(SG2)连接的状态下从第2信号产生器(SG2)产生第2频率的信号(f2)而得到的第2基准信号来得到基准相位差，并且根据第1基准信号和第2基准信号通过外差方式来算出与基准相位差对应的基准电压。

公开(公告)号：CN107615070A

公开(公告)日：2018-01-19

申请号：CN201680031171.8

申请日：2016-05-30

Applicant: 京瓷株式会社

Inventor： 田中浩康 ,  胜田宏

IPC: G01N33/543 ,  G01N5/02 ,  G01N35/00

Abstract: 提供试样中包含的检测对象物的检测方法。另外，提供用于检测试样中包含的检测对象物的检测装置。一种检测方法，其具备从第1测定工序中测定的第1信号值和第2测定工序中测定的第2信号值得到检测值的第1检测工序。另外，一种检测装置，其具备从第1测定部中测定的第1信号值和第2测定部中测定的第2信号值得到检测值的第1检测部。

公开(公告)号：CN1716481A

公开(公告)日：2006-01-04

申请号：CN200510081034.9

申请日：2005-06-28

Applicant: 京瓷株式会社

Inventor： 山形佳史 ,  胜田宏

IPC: H01G7/06 ,  H01L27/01

CPC classification number: H01G5/38

Abstract: 本发明的目的在于，提供一种波形失真和互调失真小、耐电性能优秀、损耗低的可变谐振电路。在高频信号的输入端子和输出端子之间，串联连接多个使用由施加电压改变介电常数的薄膜电介质层的可变电容元件，由于施加电压的高电位侧的第1偏置线和低电位侧的第2偏置线，与所述多个可变电容元件的相互连接的各个电极，和所述多个可变电容元件串联连接构成的可变电容元件列的输入端子以及输出端子上连接的各个电极交替连接，因此能够最大限度地利用偏置信号带来的可变电容值电容器的电容变化率，来在较宽的频率范围内改变谐振频率，并且能够获得在高频电子部件中波形失真和互调失真小、耐电性能优秀、即使在高频下损失也很低的可变电容值电容器。