公开(公告)号：CN114964107A

公开(公告)日：2022-08-30

申请号：CN202210532243.4

申请日：2022-05-09

Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所

Inventor： 钱丰 ,  孙玉玖 ,  王爱军 ,  王一璋

IPC: G01B21/08 ,  G01B5/06 ,  G01B5/02

Abstract: 本发明公开的是一种多基准的标准花键量规，属于测量工具技术领域。本发明公开的是一种多基准的标准花键量规，包括芯轴、与所述芯轴同轴设置的标准花键量规、第一圆柱基准轴、第二圆柱基准轴及圆锥基准轴；所述芯轴包括同轴设于两端的第一顶尖孔及第二顶尖孔；所述第一圆柱基准轴、所述标准花键量规、所述第二圆柱基准轴及所述圆锥基准轴依次同轴设置；所述标准花键量规的本身齿距误差、齿形误差、齿向误差均小于5微米。本发明的一种多基准标准花键量规，加工和测量基准一致，最大限度减小测量基准对齿厚测量的影响，方便评价齿厚参数的测量准确度。

公开(公告)号：CN114295063A

公开(公告)日：2022-04-08

申请号：CN202111561688.7

申请日：2021-12-16

Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所

Inventor： 王一璋 ,  孙玉玖 ,  王爱军 ,  钱丰

IPC: G01B11/03 ,  G01B11/06 ,  G01B11/14

Abstract: 本发明公开的一种花键量规参数测量方法及装置，属于计量器具校准领域。本发明的装置包括底座、工作台、运动轴、测头、立柱、上顶尖和下顶尖。测头为三维扫描测头，测量切向运动轴X轴位置的传感器安装在U轴上，测量径向运动轴Y轴位置的传感器安装在靠近Y轴运动导轨的位置。本发明使用接触测量方式扫描花键工作面，计算得到齿厚和齿槽宽；使用自定心方式，直接测得跨棒距M值。本发明采用的基圆数学模型、分度圆数学模型和花键齿形数学模型等花键数学模型和测量装置布局符合参数定义，能够满足各类型花键校准需求，尤其是能够从实质上解决奇数齿花键的校准问题，消除实际压力角偏离理论值对测量结果的影响，提高测量效率及测量结果更精确程度。