公开(公告)号：CN103837601B

公开(公告)日：2016-05-18

申请号：CN201210487851.4

申请日：2012-11-26

Applicant: 中国科学院声学研究所

Inventor： 张碧星 ,  谢馥励 ,  宫俊杰 ,  师芳芳

IPC: G01N29/26 ,  G01N29/22

Abstract: 本发明提供一种宽带导波相控阵聚焦扫描方法及系统，所述方法包含如下步骤：步骤101）用于聚焦发射的步骤，采用如下的激励信号来控制换能器各阵元的导波分量发射的时间延迟，使得各阵元发出的所有频率分量的导波同时到达预定焦点实现聚焦；其中，F′j(ω)表示第j个阵元发射的激励信号的频谱，ω为角频率，rj为第j个阵元到焦点的距离，v表示导波传播的相速度，F(ω)表示换能器激励信号的窗函数的幅度，rj/v为用于实现导波分量延时的时延值；步骤102）用于聚焦接收的步骤，该步骤将换能器各阵元接收的回波信号进行时间反转处理，并设定将时间反转处理后的信号作为激励信号加载到换能器对应的阵元上进行激励，然后计算得到预设焦点处的声信号作为聚焦接收后的检测信号。

公开(公告)号：CN104181403A

公开(公告)日：2014-12-03

申请号：CN201410386826.6

申请日：2014-08-07

Applicant: 中国科学院声学研究所

Inventor： 刘梦伟 ,  李鉴 ,  汪承灏 ,  宫俊杰

IPC: G01R29/22

Abstract: 本发明涉及一种压电薄膜厚度机电耦合系数的检测方法，所述方法包括：生成高次谐波体声波谐振器；根据所述高次谐波体声波谐振器的电学阻抗曲线获得机电耦合系数分布数据；获取所述机电耦合系数中的第一个机电耦合系数最大值和第一个机电耦合系数最大值对应的第一频率；采用伸缩模式复合谐振器模型计算压电薄膜的厚度机电耦合系数。本发明所述的压电薄膜厚度机电耦合系数检测方法简单，只需测试电学量，不需对压电薄膜进行力学加载，不需微小机械量测量，计算量小，表征结果可靠。

公开(公告)号：CN102175766A

公开(公告)日：2011-09-07

申请号：CN201010621797.9

申请日：2010-12-27

Applicant: 中国科学院声学研究所 ,  长江大学

Inventor： 张碧星 ,  师芳芳 ,  吴先梅 ,  宫俊杰 ,  章成广

IPC: G01N29/04 ,  G01N29/26

Abstract: 本发明提供一种管(棒)材超声相控阵在线检测系统及检测方法，通过在管材周围在垂直于管材中心线的平面以及在与管材中心线呈一定夹角的位置上设置多个凹面相控阵换能器探头，利用凹面超声相控阵换能器探头产生相控阵聚焦的电控声场，并利用高压开关阵列、多通道相控阵发射接收系统及控制系统，通过高压开关阵列电路不停地快速切换，在不同时刻控制不同的换能器阵元进行发射与接收，使相控阵聚焦声束在管材内高速旋转，从而实现动态聚焦与扫描。利用本发明，能够在不移动相控阵换能器探头位置的情况下，实现对管材360度方位的全覆盖扫描，可同时实现对纵向和横向缺陷的扫描与检测，提高检测精度的同时大大提高了检测速度。