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公开(公告)号：CN114088667B
公开(公告)日：2022-09-20
申请号：CN202111582208.5
申请日：2021-12-22
Applicant: 中国科学院半导体研究所
Abstract: 一种低温磁场环境下的波矢分辨布里渊光谱测量系统，包括：恒温装置，适用于放置待测样品且将待测样品的温度保持在低温环境下；物镜，适用于将目标激光聚焦到待测样品上，以激发待测样品产生带有待测样品光谱特性的布里渊散射光；磁场产生装置，适用于给待测样品施加磁场；以及连接台，恒温装置和磁场产生装置设置于连接台上，连接台适用于驱动恒温装置和磁场产生装置转动；其中，在连接台沿着预设方向旋转的情况下，目标激光聚焦到待测样品上的位置保持不变，磁场产生装置与恒温装置的相对位置保持不变，每隔预设角度，通过物镜的目标激光激发待测样品产生带有待测样品光谱特性的布里渊散射光，从而得到波矢分辨的布里渊散射光谱。
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公开(公告)号：CN114088667A
公开(公告)日：2022-02-25
申请号：CN202111582208.5
申请日：2021-12-22
Applicant: 中国科学院半导体研究所
Abstract: 一种低温磁场环境下的波矢分辨布里渊光谱测量系统，包括：恒温装置，适用于放置待测样品且将待测样品的温度保持在低温环境下；物镜，适用于将目标激光聚焦到待测样品上，以激发待测样品产生带有待测样品光谱特性的布里渊散射光；磁场产生装置，适用于给待测样品施加磁场；以及连接台，恒温装置和磁场产生装置设置于连接台上，连接台适用于驱动恒温装置和磁场产生装置转动；其中，在连接台沿着预设方向旋转的情况下，目标激光聚焦到待测样品上的位置保持不变，磁场产生装置与恒温装置的相对位置保持不变，每隔预设角度，通过物镜的目标激光激发待测样品产生带有待测样品光谱特性的布里渊散射光，从而得到波矢分辨的布里渊散射光谱。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101308889B
公开(公告)日：2010-08-18
申请号：CN200710099289.7
申请日：2007-05-16
Applicant: 中国科学院半导体研究所
IPC: H01L33/00
Abstract: 本发明一种提高半导体型碳纳米管发光效率的方法，其特征在于，该方法包括：制备含有不同带隙半导体型碳纳米管的碳纳米管束；把碳纳米管束准备成发光器件，选择能量与碳纳米管束中的宽带隙半导体型碳纳米管的带隙相接近或相等的激发光去激发碳纳米管束来提高碳纳米管束中窄带隙半导体型碳纳米管的光致发光效率；或者把碳纳米管束准备成发光器件，在碳纳米管束两端施加偏压，来提高碳纳米管束中窄带隙半导体型碳纳米管的电荧光发光效率。
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公开(公告)号：CN101581667A
公开(公告)日：2009-11-18
申请号：CN200810106544.0
申请日：2008-05-14
Applicant: 中国科学院半导体研究所
Abstract: 一种对激发光源无稳定性要求的光激发荧光谱系统，包括：一光源；一分光仪位于光源之后，用来将光源所发出的广谱光信号色散为窄带光源或单色光源；一激发光汇聚元件位于分光仪之后，用来将分光仪分出的激发光汇聚到所测样品上；一分束器位于激发光汇聚元件之后，将分光仪分出激发光的一部分反射到另一方向，进入后叙的光强计；一光强计位于分束器光路的一侧，用来探测经分束器反射后的激发光强度，作为参考光强度；一样品位于分束器之后；一发射光收集元件位于样品之后，用来将样品所发出的信号光汇聚到后叙的发射光谱仪的入口；一发射光谱仪位于发射光收集元件之后，用来将信号光色散到后叙的探测器；一探测器位于发射光谱仪之后，用来探测经发射光谱仪色散后的光谱信号强度；一计算机，分别与分光仪、光强计、发射光谱仪和探测器连接，用来控制整套系统的运作。
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公开(公告)号：CN101581662A
公开(公告)日：2009-11-18
申请号：CN200810106531.3
申请日：2008-05-14
Applicant: 中国科学院半导体研究所
Abstract: 一种对激发光源无稳定性要求的吸收、反射和透射光谱系统，包括：一光源；一分光仪位于光源之后，用来将光源所发出的广谱光信号色散为窄带光源或单色光源；一激发光汇聚元件位于分光仪之后，用来将分光仪分出的激发光汇聚到所测样品上；一分束器位于激发光汇聚元件之后，将分光仪分出激发光的一部分反射到另一方向，进入后叙的光强计；一光强计位于分束器光路的一侧，用来探测经分束器反射后的激发光强度，作为参考光强度；一样品位于分束器之后；一信号光收集元件位于样品之后，用来将样品所发出的信号光汇聚到后叙的探测器；一探测器位于信号光收集元件之后，用来探测样品的吸收、反射或透射信号光强度；一计算机，分别与分光仪、光强计和探测器连接，用来控制整套系统的运作。
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公开(公告)号：CN216847447U
公开(公告)日：2022-06-28
申请号：CN202123156309.4
申请日：2021-12-15
Applicant: 中国科学院半导体研究所
Abstract: 本实用新型提供了一种透射光谱系统，包括第一输出装置，用于输出激光；第二输出装置，用于输出第一准直光；第二分光镜，设置在激光和准直光束的光路上，用于透射激光和反射第一准直光，得到第一光，第一光包括激光和第二分光镜反射的第一准直光；聚焦装置，设置在第一光的光路上，用于将第一光汇聚到待测样品上；样品台，设置在聚焦装置的出光光路上，用于放置待测样品并输出透射光，透射光包括所述第一光透过待测样品的光；针孔滤波装置，设置在透射光的光路上，用于将部分透射光进行空间滤波并转换成第二准直光，部分透射光包括：所述第一光中的第二分光镜反射的第一准直光透过待测样品的光；光谱输出装置，设置在针孔滤波装置的一侧，用于根据第二准直光输出透射光谱。
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公开(公告)号：CN216594776U
公开(公告)日：2022-05-24
申请号：CN202123172592.X
申请日：2021-12-16
Applicant: 中国科学院半导体研究所
IPC: G01N21/64
Abstract: 本实用新型提供一种显微角分辨光谱测量系统，包括显微物镜与收集模块。待测样品位于显微物镜的焦点处，收集模块依次包括第一凸透镜、空间滤波孔、第二凸透镜，空间滤波孔位于第一凸透镜与第二凸透镜的共同焦点处，显微物镜有效焦距f1、第一凸透镜焦距f2、激光经显微物镜汇聚后直径d1、空间滤波孔直径d2满足f1/f2＝d1/d2。本实用新型分辨率接近光学显微镜分辨率的极限，大大提高了信噪比。成像系统不会使光路发生偏折，因此可以得到样品准确位置的角分辨光谱。系统组件中由于没有使用光纤组件，可以避免光纤耦合造成的信号损失。采用正交配置的能量分束片避免了光路中由于光学元件的折射效应可能产生的测量误差。
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