公开(公告)号：CN115077463B

公开(公告)日：2023-07-25

申请号：CN202210524829.6

申请日：2022-05-13

Applicant: 东北大学

Inventor： 李丽匣 ,  张晨 ,  刘美涵 ,  孟庆有 ,  卢冀伟 ,  刘飞飞 ,  张玉磊 ,  潘震宇

IPC: G01B21/30 ,  G01Q60/24 ,  G01Q30/20

Abstract: 本发明提供一种磨矿产品表面真实粗糙度的科学表征方法，包括以下步骤：将磨矿产品按照不同的窄粒级进行分类；并分别将每一粒级磨矿产品充分混匀、分散、制备各个粒级AFM检测样品；通过原子力显微镜的峰值力轻敲模式，对混匀后的磨矿产品颗粒的表面进行三维成像，获取扫描图像；对扫描图像进行分析；去除扫描图像中颗粒表面台阶、晶面边界后，将颗粒产品表面分为若干区域，作为RMS计算区域，进行RMS计算；计算RMS计算区域中所有像素点高度的均方根，作为磨矿产品表面的RMS粗糙度，定量表征断裂面粗糙度的纵向径深；修正AFM成像过程中所存在的误差，得到h(x)和h(X,Y)的准确数据；计算样品表面在三维平面的粗糙度PSD，定量表征粗糙度的空间分布密度。

公开(公告)号：CN115077463A

公开(公告)日：2022-09-20

申请号：CN202210524829.6

申请日：2022-05-13

Applicant: 东北大学

Inventor： 李丽匣 ,  张晨 ,  刘美涵 ,  孟庆有 ,  卢冀伟 ,  刘飞飞 ,  张玉磊 ,  潘震宇

IPC: G01B21/30 ,  G01Q60/24 ,  G01Q30/20

Abstract: 本发明提供一种磨矿产品表面真实粗糙度的科学表征方法，包括以下步骤：将磨矿产品按照不同的窄粒级进行分类；并分别将每一粒级磨矿产品充分混匀、分散、制备各个粒级AFM检测样品；通过原子力显微镜的峰值力轻敲模式，对混匀后的磨矿产品颗粒的表面进行三维成像，获取扫描图像；对扫描图像进行分析；去除扫描图像中颗粒表面台阶、晶面边界后，将颗粒产品表面分为若干区域，作为RMS计算区域，进行RMS计算；计算RMS计算区域中所有像素点高度的均方根，作为磨矿产品表面的RMS粗糙度，定量表征断裂面粗糙度的纵向径深；修正AFM成像过程中所存在的误差，得到h(x)和h(X,Y)的准确数据；计算样品表面在三维平面的粗糙度PSD，定量表征粗糙度的空间分布密度。