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公开(公告)号：CN109297687A
公开(公告)日：2019-02-01
申请号：CN201811432471.4
申请日：2018-11-27
Applicant: 上海应用技术大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供了一种LED光电性能检测系统及检测方法，包括：TEC控制器、加热平台、水箱、光电检测仪；其中，TEC控制器与加热平台电连接，用于控制加热平台的温度；水箱通过水管与加热平台连接，用于快速冷却加热平台；加热平台放置于光电检测仪的置物台的一个端面上，用于控制待检测LED器件的工作温度。从而实现了实时检测LED器件在不同恒定温度下的光电性能，检测的温度范围更广，能够检测LED器件在低温与高温情况下的光电性能，模拟LED器件在极端条件下照明情况；同时，也解决了目前冷热冲击系统降温升温慢的问题，并且能够检测LED器件在温度突变的情况下的光电性能，模拟LED器件照明在温度冲击条件下的光电性能。
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