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公开(公告)号：CN1754206A
公开(公告)日：2006-03-29
申请号：CN200380109904.8
申请日：2003-10-01
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1873 , G11B2220/20
Abstract: 本发明提供了一次性写入光学记录介质，用于分配所述一次性写入光学记录介质的缺陷管理区的方法，以及用于分配所述一次性写入光学记录介质的备用区的方法。这里提供的具有至少一个记录层的一次性写入光学记录介质上的缺陷的管理方法包括下列步骤：分别分配至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区至所述光学记录介质，将缺陷管理信息记录在所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区上；以及使用所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区。
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公开(公告)号：CN1751339A
公开(公告)日：2006-03-22
申请号：CN200380109805.X
申请日：2003-10-01
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1873 , G11B2220/20
Abstract: 一种一次写入型光盘和在一次写入型光盘分配备用区的设备和方法。所述方法包括在一次写入型记录介质上分配数据区和在记录介质上在该数据区内分配用户数据区和至少一个备用区。所述至少一个备用区具有可变大小，其中记录介质上的所述至少一个备用区的最大记录容量比在可重写型光盘上的至少一个可变备用区的最大记录容量小。
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公开(公告)号：CN1682285A
公开(公告)日：2005-10-12
申请号：CN03821406.7
申请日：2003-09-30
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B20/10009 , G11B20/22 , G11B2020/1288 , G11B2020/1873 , G11B2220/20 , G11B2220/2541
Abstract: 提供一种可一次写入的记录介质，以及一种用于管理所述记录介质上缺陷区的方法和设备。所述方法包括：在进行数据写入操作时，数据一经写入数据区，则在该记录介质的数据区内检测存在的缺陷区；如果检测到缺陷区，则将写入缺陷区的数据写入数据区的备用区；将与缺陷区相关的临时管理信息写入该记录介质的临时管理区；以及将用于存取临时管理信息用的存取信息写到该记录介质的保留区。
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