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公开(公告)号：CN118553754A
公开(公告)日：2024-08-27
申请号：CN202410605322.2
申请日：2024-05-16
Applicant: 海宁九色光芯片科技有限责任公司
Inventor： 吴少雄
IPC: H01L27/146 , G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种单片集成光谱识别芯片的制备方法及光谱识别芯片，涉及光谱识别芯片技术领域。方法包括：在P型硅衬底的上表面刻蚀沟槽并填充绝缘材料，在沟槽所围区域掺杂磷原子形成N阱，沿N阱区域边长掺杂磷原子，形成N型重掺杂区域，蚀刻N阱中N型重掺杂区域之外的区域后沉积铝合金，形成金属超表面结构，设置第一电极和第二电极并沉积二氧化硅，蚀刻第一通孔和第二通孔并填充通孔金属材料，设置第一金属材料与第一电极连接，设置第二金属材料与第二电极连接，得到单片集成的光谱识别芯片。本发明通过设置金属超表面结构，使单片集成光谱识别芯片具有高集成、体积小的优点。
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公开(公告)号：CN118549093A
公开(公告)日：2024-08-27
申请号：CN202310173047.7
申请日：2023-02-27
Applicant: 北京与光科技有限公司
Abstract: 本发明提供一种光学测试系统，其中所述光学测试系统用于检测光谱芯片，其中所述光学测试系统包括光学检测装置和控制装置，其中所述控制装置与所述光学检测装置相电连接，由所述控制装置控制所述光学检测装置的工作状态，其中所述光学检测装置包括箱体和被设置于所述箱体的测试光源，其中所述测试光源被布置在所述箱体的内侧，且与待测光谱芯片相对设置，所述箱体用于作为所述测试光源的支撑结构，并为待测光谱芯片提供测试所需要的环境。
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公开(公告)号：CN118548989A
公开(公告)日：2024-08-27
申请号：CN202410792772.7
申请日：2024-06-19
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本申请提供了一种多通道光谱仪及光波长获取方法，属于光谱成像技术领域，光谱仪包括顺次排列的光纤阵列、第一狭缝阵列、第二狭缝阵列、光电探测器和数据分析模块；光纤阵列接收多个不同来源的输入光，保证输入光之间不会出现串扰现象；第一狭缝阵列和第二狭缝阵列将入射的光信号调制，产生摩尔纹信号；光电探测器获取摩尔纹信号；数据分析模块基于摩尔纹信号，通过识别摩尔纹位置，获取输入光的波长，以便分辨出超过奈奎斯特采样极限的波长改变量。本申请无需改多通道光谱仪的原始结构，通过改变狭缝阵列的周期可以实现不同的超分辨率。
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公开(公告)号：CN112437871B
公开(公告)日：2024-08-27
申请号：CN201980047548.2
申请日：2019-07-25
Applicant: 西班牙环境能源技术研究中心基金会
Inventor： C·费尔南德斯·佩尔切 , A·贝纳多斯·加西亚 , M·桑切斯·冈萨雷斯 , C·赫拉斯·维拉 , I·萨利纳·阿里兹 , R·阿隆索·埃斯特班
Abstract: 本发明涉及一种系统，该系统用于测量：光谱的每个波长的单色衰减，单色衰减被理解为在具有由测量设备提供的光谱宽度的光谱的波长处的这样的衰减；光谱范围中的光谱衰减，光谱衰减被理解为在整个光谱测量范围内的所有波长处的这样的单色衰减集；以及总衰减，总衰减被理解为通过对在用太阳光谱加权的光谱测量范围中的光谱衰减进行积分而计算的这样的衰减。本发明还涉及一种用于测量的方法，该方法提供整个光谱范围中的衰减的测量，以用于最佳的能量系统效率评估，并且用于实现对引起所述衰减的气象现象的差分测量，从而提供用于该特定领域中的气象预报的相关信息，该相关信息可以用于评估衰减现象以用于太阳能电站的地点选择以及用于操作电站。
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公开(公告)号：CN118538747A
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202410608056.9
申请日：2024-05-16
Applicant: 深圳光感半导体有限公司
IPC: H01L27/146 , G01J3/28 , G01J3/02
Abstract: 本申请提供一种光谱芯片的制备方法及光谱芯片。光谱芯片的制备方法用于光谱芯片，光谱芯片包括多个光学通道，多个光学通道的中心波长不同，包括：获取基底，基底上具有多个感光单元，在感光单元覆盖填充物，以在多个感光单元上形成平坦化层；在平坦化层上形成感光保护层，感光保护层设有多个光学通道区域，多个光学通道区域与多个光学通道一一对应；在每个光学通道区域处构筑滤光单元组。本申请的光谱芯片的制备方法，使得平坦化层以及平坦化层下的感光单元等结构在构筑滤光单元组的过程中不会被破坏，有效的减小了滤光单元组和感光单元之间的距离，缩短了光谱芯片的光的传播路径，有利于提高光谱芯片的质量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117451181B
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202311466084.3
申请日：2023-11-06
Applicant: 北京航空航天大学
Abstract: 本发明涉及快照式计算光谱仪技术领域，且公开了一种基于电致变色器件的计算光谱仪的制备方法，包括以下步骤：S1，电致变色器件的制备：采用脉冲直流反应磁控溅射法在云母基底上制备电致变色薄膜并组成电致变色器件，并制备滤光片阵列；S2，光谱校准：采用单色光照射电致变色器件，电化学工作站提供不同电压驱动电致变色器件，通过CMOS图像相机读出透射强度；S3，光谱重建：未知光通过电致变色器件进入CMOS图像相机，施加不同的电压，通过CMOS图像相机读出，重建算法计算光谱。本发明采用上述一种基于电致变色器件的计算光谱仪的制备方法，通过电致变色原理的电可调光谱响应特性提高滤光片的通道数量，从而提高计算光谱仪的光谱分辨率。
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公开(公告)号：CN118500545A
公开(公告)日：2024-08-16
申请号：CN202410965432.X
申请日：2024-07-18
Applicant: 北京卓立汉光分析仪器有限公司 , 北京卓立汉光仪器有限公司
Abstract: 本申请提供了一种光谱校正方法及装置，该方法包括：获取标准光源在多个波长处的第一强度值和在探测器的多个像素点各自对应的强度组，每个强度组包括：各个所述波长处的第二强度值；从各个所述像素点的强度组中，确定中心像素点的强度组，应用各个所述波长处的第一强度值，对所述中心像素点的强度组进行强度校正，得到所述中心像素点对应的校正后的强度组；应用各个所述强度组进行归一化处理，得到归一化后的数组，根据所述校正后的强度组以及所述归一化后的数组，得到校正矩阵；获取所述探测器采集的待校正光谱，根据所述校正矩阵，完成所述待校正光谱的校正。本申请能够避免光谱失真的问题，提高校正后的光谱的可靠性。
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公开(公告)号：CN110987184B
公开(公告)日：2024-08-16
申请号：CN201911395088.0
申请日：2019-12-30
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 为了解决现有基于DMD编码孔径的成像光谱系统的前置光学系统，无法在中波红外波段应用的技术问题，本发明提供了一种基于DMD的孔径编码光谱成像仪前置斜像光学系统，包括沿同一光路依次设置的第一球面镜、第二球面镜、第三球面镜、第四球面镜和DMD编码器件；第一球面镜用于限制光束的大小；第一球面镜与第三球面镜均绕整个前置斜像光学系统的光轴旋转对称；第二球面镜、第三球面镜与第四球面镜中之一相对于所述光轴偏心并倾斜设置，偏心尺寸小于等于前置斜像光学系统口径的1/4，倾斜角度为‑24°～24°；DMD编码器件倾斜设置，DMD编码器件与光轴之间的夹角等于其微镜工作角度的2倍。
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公开(公告)号：CN118464188A
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202410436079.6
申请日：2024-04-11
Applicant: 珠海欧比特卫星大数据有限公司
Abstract: 本申请提出一种面向高光谱卫星的平场域大气校正方法、电子设备、介质，其中，方法包括：对获取的高光谱遥感影像数据的波谱参数，进行筛选分段得到包括多个波段区间的目标波谱分组；自适应地确定各个波段区间的参考波段的参考影像；对各个参考影像进行平场域空间位置筛选之后，根据得到的各个参考影像的有效平场域的中心点位置构建平场域，得到各个波段区间的平场域集合；根据平场域大气校正公式、各个平场域集合的平均光谱值、各个波段区间的对应的原始影像DN值进行计算之后，根据得到的各个波段区间的相对反射率，进行数据处理，导出高光谱遥感影像数据的相对反射率反演结果影像。能够满足在轨高光谱卫星的实时大气校正的自动化需求。
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公开(公告)号：CN118443147A
公开(公告)日：2024-08-06
申请号：CN202410343263.6
申请日：2024-03-25
Applicant: 兰州大学
Abstract: 本发明公开了一种成像型光谱仪，可以实现光谱分光和高灵敏检测。光谱仪包含谱仪入口元件(狭缝或光纤)、准直透镜、反射镜、衍射光栅、精密位移台、精密旋转台、成像透镜和光电探测器。采用透射式同轴光路设计，具备高的光通量、低杂散光和优异的成像质量。衍射光栅可电动转动，配置角度编码器实现高的光栅角度定位精度，实现高的波长校准和定位精度。成像透镜等可电动调节，方便远程调试。适用于多通道光谱学信号检测，适用于如拉曼光谱等微弱信号探测，适用于多波长激发的拉曼光谱、吸收光谱或荧光光谱测量。
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