光学薄膜和偏光板
    91.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114114512A

    公开(公告)日:2022-03-01

    申请号:CN202111014279.5

    申请日:2021-08-31

    Abstract: 提供抑制在搬运中发生工序不良、抑制在按压薄膜时产生亮点、进而弯曲性、不规则形状加工性和耐裂纹性优异的光学薄膜和偏光板。使用一种光学薄膜,其包含特定的聚碳酸酯系树脂,所述光学薄膜的面内相位差Re(550)为10nm以下,Re(450)/Re(550)为0.98~1.03,穿刺模量为50gf/mm以上。

    带相位差层的偏光板
    93.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113631972A

    公开(公告)日:2021-11-09

    申请号:CN202080024427.9

    申请日:2020-03-18

    Abstract: 提供一种白化和裂纹受到抑制且尺寸稳定性优异的带相位差层的偏光板。本申请的带相位差层的偏光板依次具有相位差层和偏光板,所述偏光板具有偏光件和保护层,该相位差层包含聚碳酸酯系树脂,Re(450)/Re(550)为0.98~1.03,Re(550)为80nm~190nm。

    偏光薄膜的制造方法和偏光薄膜的制造装置

    公开(公告)号:CN109975908A

    公开(公告)日:2019-07-05

    申请号:CN201811496156.8

    申请日:2018-12-07

    Inventor: 中原步梦

    Abstract: 本发明提供一种具有更优异的偏光度的偏光薄膜的制造方法。一种偏光薄膜的制造方法,该偏光薄膜的制造方法具有染色工序,在该染色工序中,利用配置于放入有染色液的染色槽(51)中的两个以上的导辊(53)来输送薄膜(2),且将所述薄膜(2)浸渍于染色液中,其中,至少1个所述导辊(53)具有算数平均粗糙度Ra为5.0μm以下的表面粗糙度。

    静电压测量装置和静电压测量方法

    公开(公告)号:CN109239431A

    公开(公告)日:2019-01-18

    申请号:CN201810619863.5

    申请日:2018-06-14

    Abstract: 本发明提供能够精度良好地测量显示面板的表面的静电压的静电压测量装置和静电压测量方法。静电压测量装置(1)包括保持部(11)、剥离机构(12)、以及测量器(13)。保持部(11)保持显示面板(2)。剥离机构(12)通过使保持部(11)沿预定的移动方向(D1)移动来使保护薄膜(22)自显示面板(2)的表面(21)剥离。测量器(13)在比自显示面板(2)的表面(21)剥离保护薄膜22的位置(剥离位置(P))靠移动方向(D1)的下游侧处,以与显示面板(2)的表面(21)相对的方式固定于规定位置,并测量表面(21)的静电压。

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