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公开(公告)号：CN307411404S
公开(公告)日：2022-06-21
申请号：CN202230192211.5
申请日：2022-04-07
Applicant: 中国电子科技集团公司第十三研究所
Designer： 李晓光 , 吴立丰 , 孙磊磊 , 赵瑞华 , 李军凯 , 汤晓东 , 庞克俭 , 王凯 , 刘晨宇 , 杨东旭
Abstract: 1.本外观设计产品的名称：探针自动测试设备。2.本外观设计产品的用途：用于半导体芯片的全自动测试。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。
