公开(公告)号：CN108761516A

公开(公告)日：2018-11-06

申请号：CN201810293466.3

申请日：2018-04-04

Applicant: 同源微(北京)半导体技术有限公司

Inventor： 高占军

IPC: G01T1/20

CPC classification number: G01T1/20

Abstract: 本发明公开了一种双能量X射线探测器，包括：低能子板，包括沿射线入射方向依次设置于第一PCB板上的低能闪烁体阵列和第一光电二极管阵列；高能子板，包括沿射线入射方向依次设置于第二PCB板上的高能闪烁体阵列和第二光电二极管阵列；所述低能子板和高能子板沿射线入射方向依次通过直插针直接连接到母板上，第一光隔器件各像元中心点与对应高能闪烁体阵列各像元中心点对准；其中所述第一光隔器件为所述低能闪烁体阵列或第一光电二极管阵列。本发明探测器子板分别通过直插针直接与母板进行连接，实现了探测器的紧凑型基础构架，提高了集成度，实现了探测器的高可靠性连接及产品运行的可靠性，大大降低了产品成本。

公开(公告)号：CN107407595B

公开(公告)日：2018-09-07

申请号：CN201680018266.6

申请日：2016-03-16

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 笠井优 ,  大西富士夫 ,  田崎修 ,  田上英嗣 ,  田中一启

IPC: G01J1/42 ,  G01N23/2251 ,  G01N33/53

CPC classification number: G01J1/44 ,  G01J1/42 ,  G01N21/66 ,  G01N21/956 ,  G01N23/203 ,  G01N23/22 ,  G01N23/225 ,  G01T1/1647 ,  G01T1/20

Abstract: 一种光量检测装置，对由光电倍增管(2)检测、由前置放大器(5)放大、且转换成数字信号的检测信号进行基准补偿处理即将低于预定的基准阈值的信号成分的时间平均值计算为基准电压，并补偿检测信号以使基准电压成为0，对已进行基准补偿处理的信号进行阈值处理即计算高于预定的信号检测阈值的信号成分、和光未入射至光电倍增管(2)的状态下的基准补偿处理，对其输出信号进行暗电流计算处理即计算高于预定的信号检测阈值的信号成分，并使由阈值处理得到的检测光的信号成分减去由暗电流计算处理得到的暗电流的信号成分的时间平均值来计算发光信号量。由此，通过辨别暗电流脉冲和本底噪声，可以提高基准电压的精度，可以提高光的检测精度。

公开(公告)号：CN106463194B

公开(公告)日：2018-09-07

申请号：CN201580028088.0

申请日：2015-05-22

Applicant: 东丽株式会社

Inventor： 滨野翼 ,  谷野贵广 ,  西山卓哉 ,  田岛逸茑翠

IPC: G21K4/00 ,  G01T1/20

CPC classification number: G01T1/20 ,  G21K4/00

Abstract: 本发明的目的在于提供可靠性高的闪烁体面板，其能够通过简便的方法来显著地抑制荧光体的发射光的散射、得到必要且充分的强度的发射光，从而能够得到清晰性优异的图像。本发明提供闪烁体面板，其具备基板以及含有荧光体粉末的荧光体层，上述荧光体层在表面上具有多个凹坑，上述凹坑的开口部的面积A为500~70000μm2，上述凹坑的深度D与上述荧光体层的厚度T之比D/T为0.1~0.9。

公开(公告)号：CN108474753A

公开(公告)日：2018-08-31

申请号：CN201680074801.X

申请日：2016-12-08

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 大西达也

IPC: G01N23/04 ,  G01V5/00 ,  G01T1/20

CPC classification number: G01N23/087 ,  G01N23/18 ,  G01T1/20 ,  G01T7/00

Abstract: 本发明提供一种X射线检测装置，所述X射线检测装置(10)是检测透过了检查对象物的放射线的装置，其具备：滤光片(50)，其使透射X射线的一部分衰减；检测部(20)，其检测由滤光片(50)使一部分衰减了的透射X射线；箱体(30)；保持架(40)，其具有一个狭缝(42)。检测部(20)具有线性传感器(21)和与线性传感器(21)接近地并列配置的线性传感器(22)。保持架(40)以滤光片(50)覆盖狭缝(42)的一部分的方式将滤光片(50)保持在规定的位置，线性传感器(22)检测由滤光片(50)进行衰减后的X射线。

公开(公告)号：CN104656119B

公开(公告)日：2018-06-05

申请号：CN201310585902.1

申请日：2013-11-19

Applicant: 苏州瑞派宁科技有限公司

Inventor： 谢庆国 ,  邓贞宙

IPC: G01T7/00 ,  G01T1/20

CPC classification number: G01T1/20 ,  G01T1/2985 ,  G01T1/362

Abstract: 一种闪烁脉冲信息复原的方法，其包括步骤：获取低计数下的非堆积符合单事件的闪烁脉冲数据库，再对各路单事件的闪烁脉冲数据库建立闪烁脉冲的噪声模型；根据闪烁脉冲的噪声模型计算给定能量值的后验概率对数值；通过计算反复地调用第二步骤，获得满足最大后验概率条件的能量值。一种闪烁脉冲信息复原的系统，其包括涨落模型模块、后验概率模块及能量值搜索模块。本发明闪烁脉冲信息复原的方法及系统，有效提高了系统能量计算精确度，特别适合于稀疏量化电平ADC数字式核仪器的能量计算。

公开(公告)号：CN103322419B

公开(公告)日：2018-05-29

申请号：CN201310122195.2

申请日：2013-03-21

Applicant: 卡西欧计算机株式会社

Inventor： 小椋直嗣

IPC: F21K2/00 ,  G03B21/20 ,  G03B21/00

CPC classification number: G01T1/20 ,  F21V9/08 ,  G03B21/14 ,  G03B21/204 ,  H01L33/502

Abstract: 本发明提供荧光体器件、照明装置以及投影装置。为了防止由于温度上升而从荧光体发光的发光波长产生偏移或发光强度降低，在至少含有荧光体而形成、通过激励光的照射而放射发光光的荧光体器件中，在与上述激励光所照射的照射侧面不同的面上设置有凹凸形状。荧光体器件含有通过激励光的照射而放射发光光的荧光体，在与上述激励光所照射的照射侧面不同的面上设置有凹凸形状。

公开(公告)号：CN107407595A

公开(公告)日：2017-11-28

申请号：CN201680018266.6

申请日：2016-03-16

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 笠井优 ,  大西富士夫 ,  田崎修 ,  田上英嗣 ,  田中一启

IPC: G01J1/42 ,  G01N21/66 ,  G01N23/203 ,  G01N23/22 ,  G01N23/225

CPC classification number: G01J1/44 ,  G01J1/42 ,  G01N21/66 ,  G01N21/956 ,  G01N23/203 ,  G01N23/22 ,  G01N23/225 ,  G01T1/1647 ,  G01T1/20

Abstract: 一种光量检测装置，对由光电倍增管(2)检测、由前置放大器(5)放大、且转换成数字信号的检测信号进行基准补偿处理即将低于预定的基准阈值的信号成分的时间平均值计算为基准电压，并补偿检测信号以使基准电压成为0，对已进行基准补偿处理的信号进行阈值处理即计算高于预定的信号检测阈值的信号成分、和光未入射至光电倍增管(2)的状态下的基准补偿处理，对其输出信号进行暗电流计算处理即计算高于预定的信号检测阈值的信号成分，并使由阈值处理得到的检测光的信号成分减去由暗电流计算处理得到的暗电流的信号成分的时间平均值来计算发光信号量。由此，通过辨别暗电流脉冲和本底噪声，可以提高基准电压的精度，可以提高光的检测精度。

公开(公告)号：CN104054326B

公开(公告)日：2017-10-13

申请号：CN201280067398.X

申请日：2012-03-29

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 古宫哲夫

IPC: H04N5/369 ,  H01L31/10 ,  H04N5/32

CPC classification number: G01J1/44 ,  G01J1/4228 ,  G01J2001/4413 ,  G01J2001/446 ,  G01T1/20 ,  G01T1/208 ,  G01T1/248 ,  H01L27/1446 ,  H01L31/02019

Abstract: 根据本发明的构成，其目的在于提供一种检测精度及时间解析度得以提高的半导体光电倍增元件，其包括连接于二极管D的AD转换电路11。某二极管D检测到光子时所产生的电流一部分会流入至经由电阻而与二极管D并联连接的相邻二极管D中。此时的电流被充电至相邻的二极管D的寄生电容中且被释放。然所释放的电流会被AD转换电路11阻挡而不流向输出端子侧，亦无法使AD转换电路11导通断开。因此，根据本发明的构成，可不受到从寄生电容释放的电流的影响来对光进行检测。因此，根据本发明，可提供具有高检测精度及良好的时间解析度的半导体光电倍增元件。

公开(公告)号：CN104136939B

公开(公告)日：2017-09-19

申请号：CN201380011174.1

申请日：2013-02-25

Applicant: 皇家飞利浦有限公司

Inventor： B·魏斯勒 ,  P·K·格布哈特

IPC: G01T1/29

CPC classification number: G01T7/005 ,  A61B6/037 ,  G01T1/161 ,  G01T1/20 ,  G01T1/2985

Abstract: 一种用于正电子发射断层摄影(PET)系统(10)的检测器模块(50)包括光学收发器(66)，所述光学收发器接收来自PET处理系统(48)的光学数据流。数据流包括脉冲串，所述脉冲串运送命令以生成同步/重置脉冲。所述系统(10)还包括同步电路(70)，所述同步电路(70)被配置为同时对脉冲串进行抖动清除并且进行以下中的一个：1)对脉冲串的脉冲进行计数；以及2)针对丢失脉冲监测脉冲串。同步电路(70)还被配置为：响应于计数出预定数目的脉冲或检测出丢失脉冲，提取来自脉冲串的抖动清除脉冲，以生成抖动清除同步/重置脉冲。所述系统(10)还包括内部时钟(64)，所述内部时钟接收抖动清除同步/重置脉冲。

公开(公告)号：CN107110993A

公开(公告)日：2017-08-29

申请号：CN201580069673.5

申请日：2015-02-19

Applicant: 哈利伯顿能源服务公司

Inventor： K·基尔霍普 ,  A·德席尔瓦

IPC: G01V5/06

CPC classification number: G01V5/12 ,  E21B7/06 ,  E21B47/00 ,  G01T1/20 ,  G01V5/04 ,  G01V5/06

Abstract: 根据本公开的实施方案，提供了旋转导向工具和伽马传感器组件。这些系统可包括闪烁检测传感器，所述闪烁检测传感器安装在耦接至所述旋转导向工具的旋转驱动轴和/或电子插件的压力套筒组件中。所述传感器可各自安装在相应压力套筒内的大气压环境中。所述压力套筒可各自随所述驱动轴和所述电子插件旋转。所述系统的基于探测器的布置可促进在所述旋转导向工具的旋转部分处进行的相对较高灵敏度测量。这可允许在所述旋转导向工具的所述旋转部分处确定定向伽马测量和批量伽马测量。