用于研磨薄膜磁头的装置和方法

    公开(公告)号:CN100341048C

    公开(公告)日:2007-10-03

    申请号:CN200410088002.7

    申请日:2004-10-28

    CPC classification number: B24B37/30 B24B37/048 Y10T29/49048

    Abstract: 本发明提供了一种研磨方法和装置,它增加了磁头滑动件制造处理的收获率,但是不会使得输出和不对称特征变差。根据本发明,一种用于研磨薄膜磁头的装置包括夹具块和研磨板。该夹具块包括第一夹具和第二夹具,该第一夹具保持要进行研磨的杆,该第二夹具保持用于分担负载的部件。该研磨板可相对于第一和第二夹具运动,并可与由第一夹具保持的杆的要研磨表面以及由第二夹具保持的负载分担部件接触,以便进行研磨。

    检测薄膜磁头的方法和制造薄膜磁头的方法

    公开(公告)号:CN100504424C

    公开(公告)日:2009-06-24

    申请号:CN200410079441.1

    申请日:2004-08-18

    CPC classification number: G11B5/3903 G11B5/3116 G11B5/3166 G11B5/455

    Abstract: 在检测薄膜磁头的方法中,准备设置了具有自由层的磁阻膜和铁磁层的薄膜磁头,该自由层的磁化方向根据外部磁场而改变,该铁磁层将一个偏置磁场加载到自由层。然后,沿着加载偏置磁场的方向将一个DC磁场加载到铁磁层。随后,沿着加载偏置磁场的方向将一个AC磁场加载到铁磁层。其后,通过将一个外部磁场加载到磁阻膜同时将一个电流加载于其上来检测薄膜磁头的诸如非对称和复制输出的特征。

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