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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101297367A
公开(公告)日：2008-10-29
申请号：CN200680039631.8
申请日：2006-10-31
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B7/0079 , G11B20/1883 , G11B2020/1823 , G11B2020/1826 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/2541
Abstract: 本发明公开了一种记录介质、以及在记录介质上记录缺陷管理信息的方法和装置。用于记录记录介质的缺陷管理信息的方法包括：在记录介质上记录缺陷条目，其中该缺陷条目包括：可识别缺陷条目类型的第一字段、记录用户数据区内的缺陷区的位置信息的第二字段、以及记录备用区内的替换区的位置信息的第三字段，以及根据由第一字段确定的缺陷条目类型记录对应于第二字段和/或第三字段的位置信息，其中，在缺陷条目类型不具有对应的位置信息的情形中，将对应的字段设置为零(0)。
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公开(公告)号：CN101297367B
公开(公告)日：2011-09-14
申请号：CN200680039631.8
申请日：2006-10-31
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B7/0079 , G11B20/1883 , G11B2020/1823 , G11B2020/1826 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/2541
Abstract: 本发明公开了一种记录介质、以及在记录介质上记录缺陷管理信息的方法和装置。用于记录记录介质的缺陷管理信息的方法包括：在记录介质上记录缺陷条目，其中该缺陷条目包括：可识别缺陷条目类型的第一字段、记录用户数据区内的缺陷区的位置信息的第二字段、以及记录备用区内的替换区的位置信息的第三字段，以及根据由第一字段确定的缺陷条目类型记录对应于第二字段和/或第三字段的位置信息，其中，在缺陷条目类型不具有对应的位置信息的情形中，将对应的字段设置为零(0)。
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公开(公告)号：CN101490751A
公开(公告)日：2009-07-22
申请号：CN200780026252.X
申请日：2007-07-11
Applicant: LG电子株式会社
Abstract: 公开了一种物理结构、用于使用该物理结构在/从记录介质上记录/再现的装置及其方法，从而可以提供适合于诸如BD等的记录介质的物理结构。本发明包括多个记录层。各个记录层包括未设置于物理上相同位置的功率测试区和未设置于物理上相同位置的管理区，其中，具有连续分配的功率测试区域和管理区的层包括分配至功率测试区域的测试区缓冲区。
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公开(公告)号：CN101490751B
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN200780026252.X
申请日：2007-07-11
Applicant: LG电子株式会社
Abstract: 公开了一种物理结构、用于使用该物理结构在/从记录介质上记录/再现的装置及其方法，从而可以提供适合于诸如BD等的记录介质的物理结构。本发明包括多个记录层。各个记录层包括未设置于物理上相同位置的功率测试区和未设置于物理上相同位置的管理区，其中，具有连续分配的功率测试区和管理区的层包括分配至功率测试区的测试区缓冲区。
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公开(公告)号：CN102422353A
公开(公告)日：2012-04-18
申请号：CN201080020752.4
申请日：2010-05-03
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1826 , G11B2220/20 , G11B2220/216 , G11B2220/2541
Abstract: 公开了一种记录介质、一种数据记录/再现方法和一种数据记录/再现装置。一种记录介质，包括：在其中记录用户数据的数据区；位于该数据区的内部圆周处的内部区；以及位于该数据区的外部圆周处的外部区，其中该数据区包括至少一个备用区域，并且该内部区和该外部区中的至少一个包括至少一个磁盘管理区域，该磁盘管理区域包括：记录介质的缺陷管理信息；包括该缺陷管理信息的信息的通用管理信息；以及能够被用作有缺陷的替换簇的该备用区域的地址信息，该通用管理信息包括其中记录了缺陷管理信息的磁盘管理区域的每簇的地址信息。根据本发明的记录介质、数据记录/再现方法和数据记录/再现装置，能够更有效地管理在该记录介质中出现的缺陷。
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