公开(公告)号：CN102435637A

公开(公告)日：2012-05-02

申请号：CN201110238086.8

申请日：2011-08-12

Applicant: 通用电气公司

Inventor： S·马哈林加姆 ,  M·K·K·米塔尔 ,  P·沙马 ,  R·V·V·L·兰戈朱 ,  W·巴苏 ,  P·霍沙尔

IPC: G01N27/04 ,  G01N27/22

CPC classification number: G01N27/02 ,  A61B5/0536 ,  G01N33/2823

Abstract: 本发明名称为“执行电阻抗断层摄影的系统和方法”。用于重建多材料物体之内的电性质分布的电极阵列、系统和方法。一个实施例包括：沿三维螺旋路径布置以提供一个或多个螺旋阵列的电极，和测量信号以计算表示结构的内部的传导率分布或导纳率分布的电路。可获得表示多材料区域的图像数据。

公开(公告)号：CN102435637B

公开(公告)日：2016-03-30

申请号：CN201110238086.8

申请日：2011-08-12

Applicant: 通用电气公司

Inventor： S·马哈林加姆 ,  M·K·K·米塔尔 ,  P·沙马 ,  R·V·V·L·兰戈朱 ,  W·巴苏 ,  P·霍沙尔

IPC: G01N27/04 ,  G01N27/22

CPC classification number: G01N27/02 ,  A61B5/0536 ,  G01N33/2823

Abstract: 本发明名称为“执行电阻抗断层摄影的系统和方法”。用于重建多材料物体之内的电性质分布的电极阵列、系统和方法。一个实施例包括：沿三维螺旋路径布置以提供一个或多个螺旋阵列的电极，和测量信号以计算表示结构的内部的传导率分布或导纳率分布的电路。可获得表示多材料区域的图像数据。