公开(公告)号：CN115963439A

公开(公告)日：2023-04-14

申请号：CN202211149989.3

申请日：2022-09-21

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 阿南德·库马尔·文卡塔查里 ,  孙凌 ,  孙伟

IPC: G01R33/48

Abstract: 本公开提供了用于校正在磁共振成像(MRI)系统中使用的发射射频(RF)线圈的放大器的发射衰减的各种方法和系统。在一个示例中，一种方法包括：设置发射射频(RF)线圈的放大器的发射衰减的参考值，以设置为参考值的发射衰减获取三维B1场图，针对来自B1场图的预扫描成像体积中的多个切片位置确定多个平均翻转角，基于规定翻转角和针对相应切片位置确定的平均翻转角确定针对切片位置中的每个切片位置的发射衰减校正值，在切片位置中的每个切片位置处用发射衰减校正值校正发射衰减的参考值以获得针对切片位置中的每个切片位置的发射衰减的最终值，以及以设置为一定值的发射衰减执行MRI扫描。

公开(公告)号：CN110811619B

公开(公告)日：2023-09-01

申请号：CN201910710953.X

申请日：2019-08-02

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 阿南德·库马尔·文卡塔查里 ,  孙凌 ,  孙伟

IPC: A61B5/055

Abstract: 本发明题为“用于估计磁共振成像扫描的发射衰减的方法和系统”。本公开提供了用于校正在磁共振成像(MRI)系统中使用的发射射频(RF)线圈的放大器的发射衰减的各种方法和系统。在一个示例中，一种方法包括：设置发射射频(RF)线圈的放大器的发射衰减的参考值；以设置为该参考值的发射衰减来获取二维B1场图；从B1场图确定平均翻转角；基于规定翻转角和平均翻转角而确定发射衰减校正值；用发射衰减校正值校正发射衰减的参考值来获得发射衰减的最终值；以及以设置为该值的发射衰减执行MRI扫描。

公开(公告)号：CN110811619A

公开(公告)日：2020-02-21

申请号：CN201910710953.X

申请日：2019-08-02

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 阿南德·库马尔·文卡塔查里 ,  孙凌 ,  孙伟

IPC: A61B5/055

Abstract: 本发明题为“用于估计磁共振成像扫描的发射衰减的方法和系统”。本公开提供了用于校正在磁共振成像(MRI)系统中使用的发射射频(RF)线圈的放大器的发射衰减的各种方法和系统。在一个示例中，一种方法包括：设置发射射频(RF)线圈的放大器的发射衰减的参考值；以设置为该参考值的发射衰减来获取二维B1场图；从B1场图确定平均翻转角；基于规定翻转角和平均翻转角而确定发射衰减校正值；用发射衰减校正值校正发射衰减的参考值来获得发射衰减的最终值；以及以设置为该值的发射衰减执行MRI扫描。