公开(公告)号：CN116560078A

公开(公告)日：2023-08-08

申请号：CN202310508821.5

申请日：2023-05-08

Applicant: 苏州大学

Inventor： 许峰 ,  林槟 ,  周泉 ,  马顾 ,  刘添裕

IPC: G02B27/00 ,  G02B5/18 ,  G06F30/17 ,  G06F30/27 ,  G06F111/04

Abstract: 本发明属于光学领域，为了解决ADL优化设计过程中对计算机资源的需求过高、优化结果能量利用率低、设计中出现的映射偏心等问题，提出一种单片式全可见光成像衍射透镜及设计方法。通过设置输入平面波矩阵，构建平面波经ADL的神经网络成像模型，以损失函数作为ADL表面微结构的优化标准，以PSF和OTF作为ADL的成像约束条件设计了一种单片式全可见光成像衍射透镜。该透镜可以对全可见光进行成像，且降低了当前ADL设计的算法复杂度，解决了设计中存在的缺陷。

公开(公告)号：CN113483995A

公开(公告)日：2021-10-08

申请号：CN202110788884.1

申请日：2021-07-13

Applicant: 苏州大学

Inventor： 许峰 ,  林槟 ,  马锁冬 ,  孙鹏 ,  陈旭

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明涉及光学测量技术领域，为解决现有自聚焦透镜折射率分布检测方法的抗环境干扰能力差导致折射率检测精度不高问题，公开了一种自聚焦透镜折射率分布检测系统及方法，自聚焦透镜的前表面反射准直光束后形成参考光束，自聚焦透镜的后表面反射形成测试光束，参考光束与测试光束产生的干涉条纹经分束器反射后，入射至显微成像系统，图像处理系统对相机采集到的自聚焦透镜干涉条纹进行处理，通过解析干涉条纹信息得到自聚焦透镜折射率分布。基于斐索干涉原理的自聚焦透镜折射率分布检测方法实现了高效率、高精度的自聚焦透镜折射率分布检测，同时该斐索干涉仪系统具有抗干扰能力强，体积小的优点。

公开(公告)号：CN216717775U

公开(公告)日：2022-06-10

申请号：CN202121595168.3

申请日：2021-07-13

Applicant: 苏州大学

Inventor： 许峰 ,  林槟 ,  马锁冬 ,  孙鹏 ,  陈旭

IPC: G01M11/02

Abstract: 本实用新型涉及光学测量技术领域，为解决现有自聚焦透镜折射率分布检测系统环境干扰能力差导致折射率检测精度不高问题，公开了一种自聚焦透镜折射率分布检测系统，自聚焦透镜的前表面反射准直光束后形成参考光束，自聚焦透镜的后表面反射形成测试光束，参考光束与测试光束产生的干涉条纹经分束器反射后，入射至显微成像系统，图像处理系统对相机采集到的自聚焦透镜干涉条纹进行处理，通过解析干涉条纹信息得到自聚焦透镜折射率分布。基于斐索干涉原理的自聚焦透镜折射率分布检测系统实现了高效率、高精度的自聚焦透镜折射率分布检测，同时该斐索干涉仪系统具有抗干扰能力强，体积小的优点。