公开(公告)号：CN104833977A

公开(公告)日：2015-08-12

申请号：CN201510234678.0

申请日：2015-05-11

Applicant: 福州大学

Inventor： 许灿华 ,  马靖 ,  裴丽燕 ,  邱鑫茂 ,  施洋

IPC: G01S17/00 ,  G01S7/481 ,  G01J4/00

CPC classification number: G01S17/00 ,  G01J4/00 ,  G01S7/481

Abstract: 本发明涉及一种基于微波片阵列的瞬时遥感偏振成像装置及其实现方法，利用微波片阵列对望远镜获取的遥感图像进行偏振调制，再通过单向偏振片转换成二维光强分布。对二维光强进行数据反演可以获得遥感图像的偏振态信息。所用的微波片阵列采用超快激光微加工来制作，在图像各个微小区域引入四种不同的相位调制，结合偏振片转换成光强后可计算出该区域的Stocks矢量，从而获得整个图像的完全偏振态信息。本发明能够进行动态目标遥感测量，实现高时间、空间分辨率的完全偏振态测量。

公开(公告)号：CN104777342A

公开(公告)日：2015-07-15

申请号：CN201510177877.2

申请日：2015-04-16

Applicant: 福州大学

Inventor： 许灿华 ,  马靖 ,  裴丽燕 ,  邱鑫茂 ,  施洋

IPC: G01R19/00

Abstract: 一种线性的电光晶体半波电压快速测量装置及其方法，通过利用偏光干涉原理将外电压下电光晶体引入的相位延迟转换成干涉条纹的移动，并采用高速相机对条纹的移动进行测量，获取相位延迟量。当外加电压使电光晶体引入的相位延迟为180°时，对应的电压即为半波电压。该方法属于线性测量，结果不受光源功率波动影响，测量精度高。相位延迟量的测量时间由高速相机的采集频率决定，可达微秒量级。

公开(公告)号：CN104730001A

公开(公告)日：2015-06-24

申请号：CN201510177796.2

申请日：2015-04-16

Applicant: 福州大学

Inventor： 马靖 ,  许灿华 ,  裴丽燕 ,  邱鑫茂 ,  施洋

IPC: G01N21/23

Abstract: 一种高时间分辨高精度的椭偏测量方法，该方法利用偏光干涉原理将样品通光或反射光的偏振态改变转换成干涉条纹的移动，并利用高速相机对条纹的移动进行测量，获取椭偏参数和样品的光学参数。该椭偏测量方法的测量结果不受光源功率波动影响，属于线性测量精度高。时间分辨可达微秒量级，比现有的椭偏测量技术提高3到4个量级。

公开(公告)号：CN105181604A

公开(公告)日：2015-12-23

申请号：CN201510235765.8

申请日：2015-05-11

Applicant: 福州大学

Inventor： 马靖 ,  许灿华 ,  裴丽燕 ,  邱鑫茂 ,  施洋

IPC: G01N21/21

Abstract: 本发明涉及一种多角度入射单发椭偏测量方法，首先提供激光束聚焦柱透镜、样品、准直柱透镜、1/4波片、晶体斜劈、检偏器、成像屏、面阵相机以及计算机，再通过双折射晶体斜劈的偏光干涉将光偏振态的变化转换成一维条纹光斑的移动，其次采取合理光路设计将多角度入射对应的条纹分布在另外一个维度上，最后利用图像技术对光斑内的多组条纹进行定位和处理，在单次测量中即可获得多组偏振态信息。本发明的测试方法无机械旋转或光学调制器件，测量速度只受限于相机采集速度，而且测量结果与光强波动无关，可以极大减小系统的测量误差，提高测量的稳定性。