-
公开(公告)号：CN106773154A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611031573.6
申请日：2016-11-22
Applicant: 福州大学
IPC: G02F1/13
CPC classification number: G02F1/1309
Abstract: 本发明涉及一种液晶指向矢快速测量装置及其实现方法，通过利用基于晶体劈的偏光干涉原理将外电压驱动下液晶中透射光的偏振态改变转换成干涉条纹的移动，并利用高速相机对干涉条纹的移动进行测量，根据液晶指向矢的倾斜角和扭转角和透射光偏振态的关系，来获得液晶分子平均指向矢的动态信息。该指向矢测量方法的测量光路结构简单紧凑，测量过程中无需光学器件的调节，测量结果不受光源波动性的影响，并可同步快速测量出液晶指向矢倾斜角和扭转角，属于高精度线性测量。该方法测量速度主要依赖于相机的采集频率，可达微秒量级。
-
公开(公告)号：CN105403514A
公开(公告)日：2016-03-16
申请号：CN201510830357.7
申请日：2015-11-25
Applicant: 福州大学
Abstract: 本发明涉及一种多波长入射单发椭偏测量方法，首先提供宽光谱激光光源、宽带偏振片、样品、扩束镜、宽带1/4波片、晶体斜劈、宽带检偏器、狭缝、透射光栅、成像屏、面阵相机以及计算机，通过双折射晶体斜劈的偏光干涉将光偏振态的变化转换成一维条纹光斑的移动，采取合理光路设计将多波长入射光对应的条纹分布在另外一个维度上，利用图像技术对光斑内的多组条纹进行定位和处理，在单次测量中即可获得各个波长对应的偏振态信息。本发明的测试方法无机械旋转或光学调制器件，而且测量结果与光强波动无关，可以极大减小系统的测量误差，提高测量的稳定性。本发明的测量速度只受限于相机采集速度，结合高速线阵相机，可以将时间分辨率缩短到毫秒以下。
-
公开(公告)号：CN105403514B
公开(公告)日：2018-09-18
申请号：CN201510830357.7
申请日：2015-11-25
Applicant: 福州大学
Abstract: 本发明涉及一种多波长入射单发椭偏测量方法，首先提供宽光谱激光光源、宽带偏振片、样品、扩束镜、宽带1/4波片、晶体斜劈、宽带检偏器、狭缝、透射光栅、成像屏、面阵相机以及计算机，通过双折射晶体斜劈的偏光干涉将光偏振态的变化转换成一维条纹光斑的移动，采取合理光路设计将多波长入射光对应的条纹分布在另外一个维度上，利用图像技术对光斑内的多组条纹进行定位和处理，在单次测量中即可获得各个波长对应的偏振态信息。本发明的测试方法无机械旋转或光学调制器件，而且测量结果与光强波动无关，可以极大减小系统的测量误差，提高测量的稳定性。本发明的测量速度只受限于相机采集速度，结合高速线阵相机，可以将时间分辨率缩短到毫秒以下。
-
公开(公告)号：CN105511066A
公开(公告)日：2016-04-20
申请号：CN201610064651.6
申请日：2016-01-29
Applicant: 福州大学
CPC classification number: G02B21/0092 , G02B21/361 , G02B21/365 , G02B27/0012
Abstract: 本发明涉及一种基于微波片阵列的显微偏振成像装置，包括依次并排设置的一激光光源、一显微物镜、一显微目镜、一微波片阵列、一单向偏振片、一成像透镜及一面阵相机；所述激光光源与显微物镜间于所述显微物镜的焦距位置处放置待测样品，所述显微物镜和所述显微目镜对待测样品形成的图像进行放大，所述微波片阵列处于所述显微目镜的焦距位置，对放大后的图像进行偏振调制，所述单向偏振片将图像的二维偏振态分布转换成二维光强分布，所述成像透镜将所述二维光强分布耦合到所述面阵相机中；本发明还涉及一种基于微波片阵列的显微偏振成像装置的实现方法。本发明能够进行动态测量，实现高时间、空间分辨率的显微图像完全偏振态测量。
-
-
-
Search Results
4
records
(took 0.016 seconds)
