公开(公告)号：CN110539719B

公开(公告)日：2022-02-11

申请号：CN201910446828.2

申请日：2019-05-27

Applicant: 矢崎总业株式会社

Inventor： 山本光一 ,  藤浪一友 ,  宫本博史 ,  西崎良平 ,  柳田曜 ,  山田邦彦

IPC: B60R22/48 ,  B60R16/023

Abstract: 提供能够提升检测精度的检测设备以及检测系统。开关部(22)根据检测对象的状态而切换为将环形天线(21)的增益降低的增益降低状态或不将环形天线(21)的增益降低的增益非降低状态。开关部(22)在电波的波长为λ时，具有用于在从第1电路端子(23a)起沿环形天线(21)的第1延伸方向到离开λ/8的位置为止的环形天线(21)上的范围(K1)内降低环形天线(21)的增益的开关端子(22a、22b)。开关部(22)还具有用于在从第2电路端子(23b)起沿环形天线(21)的第2延伸方向到离开λ/8的位置为止的环形天线(21)上的范围(K2)内降低环形天线(21)的增益的开关端子(22d、22e)。

公开(公告)号：CN110539719A

公开(公告)日：2019-12-06

申请号：CN201910446828.2

申请日：2019-05-27

Applicant: 矢崎总业株式会社

Inventor： 山本光一 ,  藤浪一友 ,  宫本博史 ,  西崎良平 ,  柳田曜 ,  山田邦彦

IPC: B60R22/48 ,  B60R16/023

Abstract: 提供能够提升检测精度的检测设备以及检测系统。开关部(22)根据检测对象的状态而切换为将环形天线(21)的增益降低的增益降低状态或不将环形天线(21)的增益降低的增益非降低状态。开关部(22)在电波的波长为λ时，具有用于在从第1电路端子(23a)起沿环形天线(21)的第1延伸方向到离开λ/8的位置为止的环形天线(21)上的范围(K1)内降低环形天线(21)的增益的开关端子(22a、22b)。开关部(22)还具有用于在从第2电路端子(23b)起沿环形天线(21)的第2延伸方向到离开λ/8的位置为止的环形天线(21)上的范围(K2)内降低环形天线(21)的增益的开关端子(22d、22e)。