公开(公告)号：CN102792126B

公开(公告)日：2016-03-09

申请号：CN201180012239.5

申请日：2011-03-04

Applicant: 瑞尼斯豪公司 ,  计量软件产品有限公司

Inventor： 凯维恩·巴里·乔纳斯 ,  若弗雷·麦克法兰 ,  彼得·罗素·哈蒙德 ,  安东尼·布朗

IPC: G01B21/04

CPC classification number: G01B21/045 ,  B33Y80/00

Abstract: 描述了一种用于坐标定位设备的误差校正方法，该方法包括：（i）获得第一数据组，该第一数据组包括一个或更多个第一数据值，每个第一数据值都描述第一物体的表面上的位置；（ii）获得第二数据组，该第二数据组包括一个或更多个第二数据值，每个第二数据值都描述所述第一物体的表面上的位置；以及（iii）计算误差图，该误差图包括一个或更多个误差值，每个误差值都描述由所述第一数据组描述的表面与由所述第二数据组描述的表面之间的位置差。所述第一物体的表面法线在由每个第一数据值描述的每个位置处是已知的，并且步骤（iii）包括通过基本在已知表面法线的方向上确定所述位置差来计算每个误差值。在所述第一物体或名义上与所述第一物体相同的物体上执行处理和测量操作，其中利用在步骤（iii）中计算的误差图来校正所述第一物体或名义上与所述第一物体相同的物体的表面上的位置。

公开(公告)号：CN102792126A

公开(公告)日：2012-11-21

申请号：CN201180012239.5

申请日：2011-03-04

Applicant: 瑞尼斯豪公司 ,  计量软件产品有限公司

Inventor： 凯维恩·巴里·乔纳斯 ,  若弗雷·麦克法兰 ,  彼得·罗素·哈蒙德 ,  安东尼·布朗

IPC: G01B21/04

CPC classification number: G01B21/045 ,  B33Y80/00

Abstract: 描述了一种用于坐标定位设备的误差校正方法，该方法包括：（i）获得第一数据组，该第一数据组包括一个或更多个第一数据值，每个第一数据值都描述第一物体的表面上的位置；（ii）获得第二数据组，该第二数据组包括一个或更多个第二数据值，每个第二数据值都描述所述第一物体的表面上的位置；以及（iii）计算误差图，该误差图包括一个或更多个误差值，每个误差值都描述由所述第一数据组描述的表面与由所述第二数据组描述的表面之间的位置差。所述第一物体的表面法线在由每个第一数据值描述的每个位置处是已知的，并且步骤（iii）包括通过基本在已知表面法线的方向上确定所述位置差来计算每个误差值。在所述第一物体或名义上与所述第一物体相同的物体上执行处理和测量操作，其中利用在步骤（iii）中计算的误差图来校正所述第一物体或名义上与所述第一物体相同的物体的表面上的位置。

公开(公告)号：CN100460814C

公开(公告)日：2009-02-11

申请号：CN200580026721.9

申请日：2005-08-05

Applicant: 瑞尼斯豪公司

Inventor： 凯维恩·巴里·乔纳斯 ,  若弗雷·麦克法兰

IPC: G01B21/04

CPC classification number: G01B21/045

Abstract: 一种使用安装有测量探测器的机器测量制品的方法。该方法具有下面步骤：确定制品表面上一个或多个点的近似位置；使用这个近似位置，以将探测器和制品中的至少一个驱动到探测器和制品的一个或多个所需相对位置，和在所述位置处，在制品表面上进行所述点的一个或多个表面测量，其中在进行一个或多个表面测量时，在探测器和制品之间不存在相对移动；和，使用来自测量的数据，确定表面上一个或多个点的位置，其中显著减少动态误差。

公开(公告)号：CN103250025A

公开(公告)日：2013-08-14

申请号：CN201180011742.9

申请日：2011-02-28

Applicant: 瑞尼斯豪公司

Inventor： 凯维恩·巴里·乔纳斯

IPC: G01B21/04

CPC classification number: G01B21/042 ,  G01B5/008 ,  G01B21/045

Abstract: 描述了一种操作坐标定位设备的方法，该坐标定位设备具有测量探针（18）。该方法包括步骤：在一系列名义相同零件中取得第一零件（24），与第一零件（24）的一个或多个特征相关联的至少第一基准几何特性是已知的。也进行步骤：使用坐标定位设备测量第一零件（24）的一个或多个特征，并且由此确定第一测量几何特性，该第一测量几何特性与第一基准几何特性相对应。然后确定第一特性校正值，该第一特性校正值描述在第一基准几何特性与第一测量几何特性之间的差别。然后使用坐标定位设备测量在一系列名义相同零件中的一个或多个另外零件的一个或多个特征，并且对于每个另外零件，确定另外的测量几何特性，该另外的测量几何特性与第一基准几何特性相对应。然后将第一特性校正值应用于每个另外的测量几何特性。也描述了一种对应坐标定位设备。

公开(公告)号：CN102997843A

公开(公告)日：2013-03-27

申请号：CN201210492061.5

申请日：2006-04-26

Applicant: 瑞尼斯豪公司

Inventor： 若弗雷·麦克法兰 ,  凯维恩·巴里·乔纳斯

IPC: G01B11/00

CPC classification number: G01B11/007

Abstract: 本发明公开了一种用于位置确定设备的表面检测装置，包括：探测器本体；具有检测工件的触针尖端的细长触针；所述触针被可互换地连接到所述探测器本体并且被安装到所述探测器本体以用于纵向位移；在所述探测器本体中用于测量所述纵向位移的设备；所述触针尖端经受横向位移；与所述可互换的触针相关联的传感器系统，用于测量所述尖端的所述横向位移。

公开(公告)号：CN101166948A

公开(公告)日：2008-04-23

申请号：CN200680014249.1

申请日：2006-04-26

Applicant: 瑞尼斯豪公司

Inventor： 若弗雷·麦克法兰 ,  凯维恩·巴里·乔纳斯

IPC: G01B11/00

CPC classification number: G01B11/007

Abstract: 一种用于位置确定设备的表面检测装置，具有带尖端(82)的细长触针(74)，用于扫描要测量的工件的表面。由沿着触针从光源(66)到回射器(78)通过的光束探测触针尖端的横向位移。这通过分光器(70)将光束反射回位置敏感检测器(76)。安装该触针用于在托架(72)上的纵向位移。由分光器(70)投射到第二位置敏感检测器(84)上的另一光束测量该纵向位移。

公开(公告)号：CN1894556A

公开(公告)日：2007-01-10

申请号：CN200480037599.0

申请日：2004-12-16

Applicant: 瑞尼斯豪公司

Inventor： 戴维·罗伯特·麦克默特里 ,  若弗雷·麦克法兰 ,  凯维恩·巴里·乔纳斯

IPC: G01B21/04

CPC classification number: G01B21/042 ,  G01B21/045

Abstract: 一种用坐标定位装置测量物体的方法，所述方法包括下列步骤：将物体放置在坐标定位装置的工作容积内；用工件接触探头测量所述物体，以生成所述物体的测量数据，所述测量数据是在多种探头作用力下收集的；对于所述物体表面上的至少一个位置，确定关联测量误差数据和探头作用力的函数或者查找表；对于所述物体表面上的所述至少一个位置，使用函数或者查找表来确定对应于探头作用力为零的测量数据；以及将对应于探头作用力为零的测量数据输出，作为所述物体的测量值。

公开(公告)号：CN102997843B

公开(公告)日：2016-10-26

申请号：CN201210492061.5

申请日：2006-04-26

Applicant: 瑞尼斯豪公司

Inventor： 若弗雷·麦克法兰 ,  凯维恩·巴里·乔纳斯

IPC: G01B11/00

CPC classification number: G01B11/007

Abstract: 本发明公开了一种用于位置确定设备的表面检测装置，包括：探测器本体；具有检测工件的触针尖端的细长触针；所述触针被可互换地连接到所述探测器本体并且被安装到所述探测器本体以用于纵向位移；在所述探测器本体中用于测量所述纵向位移的设备；所述触针尖端经受横向位移；与所述可互换的触针相关联的传感器系统，用于测量所述尖端的所述横向位移。

公开(公告)号：CN101427100A

公开(公告)日：2009-05-06

申请号：CN200680054305.4

申请日：2006-04-21

Applicant: 瑞尼斯豪公司

Inventor： 若弗雷·麦克法兰 ,  凯维恩·巴里·乔纳斯 ,  詹姆斯·弗格斯·罗伯逊 ,  尼古拉斯·约翰·韦斯顿 ,  赖清河

IPC: G01B21/04

CPC classification number: G01B21/045

Abstract: 一种对使用坐标定位设备获得的工件测量值进行误差校正的方法，包括步骤：测量工件；从预定误差函数、查找表或图谱确定可重复的测量误差；在测量工件时，测量加速度的至少一个函数并计算不可重复的测量误差；和组合可重复的误差和不可重复的误差，以确定总误差；和利用总误差来校正工件测量值。

公开(公告)号：CN100453970C

公开(公告)日：2009-01-21

申请号：CN200480033606.X

申请日：2004-11-15

Applicant: 瑞尼斯豪公司

Inventor： 戴维·罗伯特·麦克默特里 ,  若弗雷·麦克法兰 ,  凯维恩·巴里·乔纳斯

IPC: G01B21/04

CPC classification number: G01B5/0016 ,  G01B21/045

Abstract: 一种对使用坐标定位装置得出的测量值进行误差补偿的方法，所述坐标定位装置包括具有表面检测设备的铰接探头。所述表面检测设备在测量过程中围绕所述铰接探头的至少一个轴线进行旋转。所述方法包括以下步骤：确定整个所述装置或其部分的刚度；确定在任一特定时刻与所述铰接探头所施加负载相关的一个或多个因素，并确定所述表面检测设备处由所述负载造成的测量误差。