公开(公告)号：CN119667455A

公开(公告)日：2025-03-21

申请号：CN202411611416.7

申请日：2024-11-12

Applicant: 浙江正泰电器股份有限公司

Inventor： 王桂贤 ,  陶宗盼 ,  杨宇 ,  周蕤 ,  成佳 ,  蒋飞鸿

IPC: G01R31/327 ,  G01M13/00 ,  G01B21/32 ,  G01R1/04

Abstract: 本发明涉及低压电器的零部件测试技术领域，公开了一种断路器的双金属片的测试方法及装置。所述断路器的双金属片的测试方法包括步骤10，组装并固定待测组件，包括将双金属片、软连接结构、操作机构和动触头以在断路器中的连接方式进行组装并固定；步骤20，将所述待测组件与测试电路接通，获取所述双金属片实时的测试姿态；步骤30，根据所述测试姿态与初始姿态计算所述双金属片的热变形数据。本发明的断路器的双金属片的测试方法，模拟双金属片在断路器中的连接关系，并在此状态下进行测试，保证双金属片的测试处的热变形数据与实际应用过程一致，进而能够获得可靠性更高的断路器。