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发明公开
图像中的弱缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质审中-实审

公开(公告)号：CN118761982A

公开(公告)日：2024-10-11

申请号：CN202410878845.4

申请日：2024-07-02

申请人： 江苏宏芯亿泰智能装备有限公司

发明人： 胡昌欣 , 李腾

IPC分类号： G06T7/00 , G06T7/136 , G06T7/12 , G06T5/30 , G06T5/50

摘要： 本发明公开了一种图像中的弱缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质。所述图像中的弱缺陷的检测方法，包括：对接收到的源图像进行中值滤波处理，得到源图像的滤波图像；对所述滤波图像使用局部灰度特征算法进行图像处理，得到所述滤波图像中的背景图像；通过至少两个阈值的分割算法、异常筛选算法和候选弱缺陷融合算法对所述背景图像进行分析，得到候选图像中的弱缺陷；对所述候选图像中的弱缺陷进行图像融合，得到图像中的弱缺陷。本申请的技术方案保证了图像中的弱缺陷的检出率，同时降低了过度检测的可能性，提高了图像中的弱缺陷的边缘分割的准确性和完整性，进而提高了图像中的弱缺陷的尺寸计算的一致性和准确性。