公开(公告)号：CN109729289A

公开(公告)日：2019-05-07

申请号：CN201811060000.5

申请日：2018-09-12

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 安藤信太郎 ,  饭田雄介 ,  清水彻

IPC: H04N5/335 ,  H04N5/351 ,  G01J1/42

Abstract: 本发明提供一种光学式传感器及检测方法，能抑制环境光的影响而检测对象物。光学式传感器(100)，检测对象物(TA)，包括：受光部(20)，多个像素分别接受光，获得表示每个像素的受光量的受光分布信号；A/D转换部(30)，针对每个像素将受光分布信号转换成数字信号；累计部(55)，针对每个像素来累计多个经转换的受光分布信号；以及判定部(58)，根据经累计的受光分布信号来判定对象物(TA)的有无。

公开(公告)号：CN108375772B

公开(公告)日：2022-01-07

申请号：CN201710962196.6

申请日：2017-10-17

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 安藤信太郎

IPC: G01S17/08

Abstract: 本发明提供检测系统、检测装置以及检测方法。检测系统(1)具有检测装置(200)和控制装置(150)，检测装置(200)具有：投光部(2022)，其向检测对象物投射光；受光部(2024)，其接收光的反射光；受光量取得部(204)，其取得由受光部接收到的受光量；以及距离取得部(206)，其取得对光进行反射的部位与检测装置之间的距离，控制装置(150)具有：设定部(1524)，其设定阈值范围，该阈值范围是受光量的阈值与距离的阈值的组合；检测部(1526)，其根据受光量是否属于阈值范围且距离是否属于阈值范围，对检测对象物进行检测；以及显示面(156)，其显示将由受光量取得部取得的受光量与由距离取得部取得的距离关联起来的对应信息。

公开(公告)号：CN108375772A

公开(公告)日：2018-08-07

申请号：CN201710962196.6

申请日：2017-10-17

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 安藤信太郎

IPC: G01S17/08

CPC classification number: G01S17/026 ,  G01S7/51 ,  G01S17/08

Abstract: 本发明提供检测系统、检测装置以及检测方法。检测系统(1)具有检测装置(200)和控制装置(150)，检测装置(200)具有：投光部(2022)，其向检测对象物投射光；受光部(2024)，其接收光的反射光；受光量取得部(204)，其取得由受光部接收到的受光量；以及距离取得部(206)，其取得对光进行反射的部位与检测装置之间的距离，控制装置(150)具有：设定部(1524)，其设定阈值范围，该阈值范围是受光量的阈值与距离的阈值的组合；检测部(1526)，其根据受光量是否属于阈值范围且距离是否属于阈值范围，对检测对象物进行检测；以及显示面(156)，其显示将由受光量取得部取得的受光量与由距离取得部取得的距离关联起来的对应信息。

公开(公告)号：CN118426067A

公开(公告)日：2024-08-02

申请号：CN202311781467.X

申请日：2023-12-22

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 蓬郷典大 ,  安藤信太郎 ,  都筑良介

IPC: G01V8/12 ,  G01S17/04 ,  G01S17/08

Abstract: 本发明提供传感器装置，能够使用粗略计测和精细计测来更高精度地检测对象物。传感器装置(100)具备：发光部(10)，朝向对象物发出检测光；受光部(20)，接收检测光的反射光并生成二值化信号；计数器计测部(32)，基于二值化信号生成第一及第二定时；延迟线(33)，传输二值化信号；第一及第二存储器，基于第一及第二定时分别记录所传输的二值化信号；累计部(34)，通过与发光部中的多次发光对应地分别对记录于第一及第二存储器的二值化信号进行累计，生成第一及第二累计波形数据；距离换算部(38)，基于第一及第二累计波形数据计算到对象物的计测距离值；以及判定部(51)，基于计测距离值来判定对象物的有无。