多孔结构的孔分布的分析方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118946797A

    公开(公告)日:2024-11-12

    申请号:CN202380030750.0

    申请日:2023-09-06

    Abstract: 根据本公开的一个方面,提供了一种多孔结构的孔分布的分析方法,包括:使用扫描电子显微镜(SEM)观察多孔结构的横截面以得到所述多孔结构的横截面的原始图像;和通过沃罗诺伊图量化所得到的原始图像的孔分布。根据所述孔分布分析方法,可以定量地分析多孔结构的孔分布。

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