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发明公开
检测装置审中-实审

公开(公告)号：CN118016656A

公开(公告)日：2024-05-10

申请号：CN202311461688.9

申请日：2023-11-06

Applicant: 株式会社日本显示器

Inventor： 杉山裕纪 , 庄司孝裕 , 大植善英 , 武田薰

IPC: H01L25/16 , H01L23/538

Abstract: 本发明提供一种能够抑制上下电极之间发生短路、并且抑制检测灵敏度降低的检测装置。检测装置具有：基板；在基板之上按照下部电极、半导体层及上部电极的顺序层叠而成的光电二极管；设于光电二极管的晶体管；和设在基板与光电二极管的层间的绝缘层及覆盖绝缘层的平坦化层，绝缘层具有在与基板垂直的方向上朝向光电二极管突出的凸部，平坦化层具有设在比光电二极管靠下部、且与绝缘层的凸部重叠的位置的接触孔，光电二极管设在平坦化层之上并且覆盖接触孔而设置，光电二极管的下部电极在接触孔的底部与晶体管电连接。

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