公开(公告)号：CN1148726C

公开(公告)日：2004-05-05

申请号：CN98120860.6

申请日：1998-09-30

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 小幡茂雄 ,  宫本诚 ,  今井淳 ,  小野义畅 ,  田中慎治 ,  高桥长 ,  川又坚次

IPC: G11B5/52 ,  G11B15/61

CPC classification number: G11B15/61 ,  G11B15/62

Abstract: 用下述方法降低磁带运行负荷：在磁带31的缠绕范围内，从下鼓11的磁带通路圆柱表面向内侧31设置上鼓12的磁带通路圆柱表面；或者在磁带31的缠绕范围内，从上鼓或下鼓的磁带通路圆柱表面向外侧设置内鼓13的磁带通路圆柱表面。

公开(公告)号：CN101545750A

公开(公告)日：2009-09-30

申请号：CN200910130185.7

申请日：2009-03-24

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 田中慎治 ,  小西章雄

IPC: G01B5/20 ,  G01B5/06 ,  C03B11/08 ,  G02B3/00

Abstract: 本发明公开了一种透镜测量装置、透镜测量方法及透镜制造方法。透镜测量装置(1)包括：在以不改变透镜(7)的状态的方式支撑该透镜(7)的情况下使该透镜(7)在XY平面内移动的工作台(3)，对通过工作台(3)移动的透镜(7)的一个透镜面(71)上的点在Z轴方向上的位置进行测量的第一位置测量仪(4)，对通过工作台(3)移动的透镜(7)的另一个透镜面(72)上的点在Z轴方向上的位置进行测量的第二位置测量仪(5)，以及根据利用工作台(3)使透镜(7)产生移动的移动量、以及第一及第二位置测量仪(4、5)的测量结果求出透镜(7)的形状的控制装置(10)。因此，能够以高精度且高效的方式测量透镜的形状。

公开(公告)号：CN1214496A

公开(公告)日：1999-04-21

申请号：CN98120860.6

申请日：1998-09-30

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 小幡茂雄 ,  宫本诚 ,  今井淳 ,  小野义畅 ,  田中慎治 ,  高桥长 ,  川又坚次

IPC: G11B5/52 ,  G11B15/61

CPC classification number: G11B15/61 ,  G11B15/62

Abstract: 用下述方法降低磁带运行负荷:在磁带31的缠绕范围内,从下鼓11的磁带通路圆柱表面向内侧31设置上鼓12的磁带通路圆柱表面;或者在磁带31的缠绕范围内,从上鼓或下鼓的磁带通路圆柱表面向外侧设置内鼓13的磁带通路圆柱表面。