Patent search ap:("松下电器产业株式会社") AND inv:"浜本博幸" Page 1

1.

发明公开
分析装置和用于该分析装置的分析用盘片失效

公开(公告)号：CN1656369A

公开(公告)日：2005-08-17

申请号：CN03812218.9

申请日：2003-05-23

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 胁田次雄 , 浜本博幸

IPC: G01N21/27 , G01N21/01

CPC classification number: G01N35/00069 , G01N33/54366 , G01N33/552

Abstract: 本发明的目的在于提供一种即使是光盘上配置了分析对象的分析用盘片，也能更正确地再生分析对象的图像的分析装置。设置对分析用盘片(201)上的径迹进行捕捉扫描的第2光拾取头(106b)及与其在盘片上相距一定距离(L)固定的第1光拾取头(106a)，以与第2光拾取头(106b)的跟踪信号相同的信号外加于将第1光拾取头(106a)的光路朝分析用盘片的径向进行驱动的跟踪致动器，边对第2光拾取头(106b)各时间的所述径向的位置进行控制边对分析对象(110)的部分进行扫描读取。

Patent Agency Ranking